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公开(公告)号：CN116718310A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310675636.5
申请日：2023-06-08
Applicant: 中南大学 , 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01L25/00
Abstract: 本发明提供了一种薄膜剪切应力传感器静态标定装置，标定平台与基座通过转动连接组件转动连接，能够相对于基座调整倾斜角度；传感器基板设置在标定平台上，传感器基板用于安装传感器本体，重力模块放置在传感器本体上，重力模块用于倾斜时产生沿传感器本体的切向应力分量，作为剪切力标定量；PIV模块用于捕捉不同剪切力作用下传感器本体上的标记粒子的位移；角度控制组件用于调整并获得标定平台相对于水平面的倾斜角度。本发明能够静态标定所制备的薄膜剪切应力传感器，获得确切的剪切模量，从而后续准确测试表面的剪切力分布，过程易于操作实施，且获取的剪切力数值精准可靠，提升了所制备的薄膜剪切应力传感器的可靠性以及实用性。
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公开(公告)号：CN113092805A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110450008.8
申请日：2021-04-25
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
Abstract: 一种用于粒子图像测速的高均匀性片光装置，涉及流场速度非接触测量领域，包括：衍射光学元件和透镜；衍射光学元件同透镜平行设置，且衍射光学元件靠近准直激光发射器；准直激光发射器发射的准直激光束穿过衍射光学元件和透镜后，形成片光；衍射光学元件远离透镜的一侧具有很多用于相位调制的方形微小单元，且方形微小单元均具有相同的宽度，但具有多个不同台阶深度。其在保证片光照明强度的同时能够实现片光的高均匀性分布，极大程度的提升光能量的利用率，且可按照指定的片光照明范围进行设计。粒子图像测速的测速系统基于高均匀性片光装置实现，其能够均匀照亮整个测量区域，提高图像质量，从而能够更加准确的得出粒子在流体中的运动速度。
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公开(公告)号：CN116399497B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310674841.X
申请日：2023-06-08
Applicant: 中南大学 , 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种面向列车表面剪切应力的测量方法，包括以下步骤：基于预估的待测试列车表面所需的剪切模量，制备膜式传感器；将膜式传感器安装在静态标定试验台上，并进行表面像素与实际位移校准；依次旋转标定实验台进行增载和减载测试，并依次进行拍照，通过PIV互相关分析，构建剪切应变与剪切应力的关系，获得传感器的剪切模量；设置辅助光源，于静止状态下通过PIV相机捕捉膜式传感器上的粒子位置；启动风洞开展测试，通过PIV相机捕捉膜式传感器上粒子位置；通过PIV后处理系统计算膜式传感器上粒子位移，通过PIV后处理系统的图像处理得到表面的剪切应力分布。本发明可以灵活、简单、高分辨率的测试高速列车表面的剪切力分布。
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公开(公告)号：CN113004558A
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN202110219392.0
申请日：2021-02-26
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种表面剪切应力敏感膜及其制备方法，涉及表面剪切应力研究领域，包括，在衬底上开设一个凹腔；将聚二甲基硅氧烷和固化剂在‑30℃至20℃温度下低温处理，按照配比进行称重，将两者混合，搅拌均匀后放入真空脱泡筒内进行真空处理，处理完毕后将混合物分成两份；其中一份混合物倒入衬底凹腔中得到混合液；将标记粒子加入到另一份混合物或者酒精中，待混合完毕后均匀喷洒在混合液表面；将衬底转移至升温室内进行升温处理，待混合液固化后得到表面剪切应力敏感膜。通过调整聚二甲基硅氧烷和固化剂的配比调整膜的剪切模量，再通过凹腔深度控制膜的厚度，从而得到不同灵敏度和测量范围的表面剪切应力敏感膜，满足不同风洞实验的需求。
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公开(公告)号：CN113743034B
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202111052350.9
申请日：2021-09-08
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G06F30/28 , G06F113/08 , G06F119/14
Abstract: 一种用于流场示踪的均匀粒子气流产生装置及方法，该装置包括容器，容器的顶部设置有粒子进料口和气体出口，气体出口经第一阀门连接有气流导流管，容器的底部设置有气体进口，气体进口经第二阀门连接有气源导流管，容器内设置有第一隔板，第一隔板的上表面设置有沿第一隔板的周向沿伸的环状体、以及位于所述环状体内侧的锥体，锥体与环状体之间形成有用于堆积粒子的堆积区，堆积区的宽度自上至下逐渐减小，第一隔板上还设置有气孔区，气孔区上设置有若干第一通孔，第一通孔的轴线与容器的轴线存在夹角。本发明具有无粒子沉积结块、粒子掺混均匀、粒子气流持续时间长的特点，适用于多种速度、温度的气体流场以及燃烧流场。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116718488A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310693891.2
申请日：2023-06-13
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种测量表面剪应力敏感膜剪切模量的方法，涉及剪切模量测量领域，本方法测量待测表面剪应力敏感膜试件倾斜时在自身重力剪切方向分量作用下的表面标记粒子在倾斜方向的位移、施加外部剪应力作用下表面剪应力敏感膜表面标记粒子在倾斜方向的位移及相应的剪应变，消除敏感膜自身重力影响和测量装置内部部件可能存在的刚性位移的影响，且无需夹持待测表面剪应力敏感膜，不产生夹持形变，能够得到表面剪应力敏感膜所受表面剪应力及产生相应剪应变的精确数据，再通过两者函数关系得到表面剪应力敏感膜的剪切模量，本方法能够有效减小测量误差，更准确地得到表面剪应力敏感膜的剪切模量。
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公开(公告)号：CN113418495A
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202110883486.8
申请日：2021-08-03
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
Abstract: 一种风洞喷管同轴度测量方法，涉及同轴度测量领域，包括以下步骤：初步确定喷管的轴线方向并沿喷管的轴线方向取多个垂直于轴线的截面，均匀采集位于每个截面与喷管内壁的交线上的多个点；分别对每个截面上采集到的多个点进行几何图形拟合，得到相应的几何中心点；假设一条直线F作为喷管的基准轴线，计算每个几何中心点至直线F的距离，此时存在一个最大值A；调整直线F的方位，使得最大值A不断减小，直至调整次数达到预设值，此时得到最大值A的极小值A′；根据A′计算得到同轴度测量值。此法具有测点数量多且分布均匀、采样速度快、样本精度高、计算方法科学、测量结果准确可靠、测量操作方便快捷等优点。
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公开(公告)号：CN116718488B
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202310693891.2
申请日：2023-06-13
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种测量表面剪应力敏感膜剪切模量的方法，涉及剪切模量测量领域，本方法测量待测表面剪应力敏感膜试件倾斜时在自身重力剪切方向分量作用下的表面标记粒子在倾斜方向的位移、施加外部剪应力作用下表面剪应力敏感膜表面标记粒子在倾斜方向的位移及相应的剪应变，消除敏感膜自身重力影响和测量装置内部部件可能存在的刚性位移的影响，且无需夹持待测表面剪应力敏感膜，不产生夹持形变，能够得到表面剪应力敏感膜所受表面剪应力及产生相应剪应变的精确数据，再通过两者函数关系得到表面剪应力敏感膜的剪切模量，本方法能够有效减小测量误差，更准确地得到表面剪应力敏感膜的剪切模量。
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公开(公告)号：CN116858693A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202310693888.0
申请日：2023-06-13
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所 , 中南大学
Abstract: 本发明公开了一种测量表面剪应力敏感膜剪切模量的装置，涉及剪切模量测量领域，倾斜装置模块安装在水平台上，试件平台安装在倾斜装置模块上，倾斜装置模块用于调整试件平台的倾斜角度，试件衬底、倾角传感模块和图像采集模块均固定在试件平台上，试件衬底用于安装固定表面设有标记粒子的待测表面剪应力敏感膜，质量块用于放置在待测表面剪应力敏感膜上为待测表面剪应力敏感膜提供剪应力，倾角传感模块用于测量试件平台的倾斜角度数据，图像采集模块用于采集质量块放置在待测表面剪应力敏感膜表面前后的若干张图像获得图像数据，数据采集处理模块计算获得待测表面剪应力敏感膜的剪切模量，本装置能够对表面剪应力敏感膜的剪切模量进行准确测量。
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公开(公告)号：CN115656550A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211417334.X
申请日：2022-11-14
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种流场速度测量方法及装置，涉及流体非接触测量领域，通过激光激发目标区域中固有的粒子，获得荧光分子团，避免了传统非接触测量技术中向流场中额外添加示踪粒子而产生的影响；基于单相机进行图像采集，使流场速度测量系统相对简单，且保证了若干图像间的匹配精度；同时，在相机进行单次拍摄中记录多条荧光标记线，提取荧光分子团的真实位移轨迹，提高了流场速度测量的精度，且本发明所公开的一种流场速度测量方法及装置能够适用于超声速、高超声速、附面层和剪切流等复杂流动场的流场速度测量。
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