-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104535643B
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201410781908.0
申请日：2014-12-16
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01N27/66
Abstract: 本发明公开了一种离子发生引出装置及其控制方法，它包括离子发生模块、气路模块、离子引出模块、离子控制门模块和电路控制系统的控制方法。通过离子发生模块将气路模块引进的气体电离产生所需要的离子，在离子引出模块的电场作用下将离子引出，引出和停止状态由离子控制门模块控制。离子发生、引出和停止过程由电路控制系统完成。通过对引出离子的分析，达到对气体介质中的物质进行检测的目的。本发明可以作为激发源应用于精密分析仪器中。
-
公开(公告)号：CN104538278B
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201410782486.9
申请日：2014-12-16
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种离子迁移发生装置及其控制方法，它包括离子发生引出单元、电场电位梯度发生单元、离子信息采集单元和电路控制系统；其中，离子发生引出单元包括离子发生模块、气路模块、离子引出模块、离子控制门模块；电场电位梯度发生单元由多个电场环片和多个绝缘环体组成；离子信息采集单元包括离子流接收器、离子流接收器绝缘体、离子流接收器屏蔽杯和离子流片；在电路控制系统的作用下，离子发生引出单元将样品气体以离子的形式激发后进入电场电位梯度发生单元，由于不同离子在电场中的飞行时间不同(运动速度不同)，所以将此信息采集后形成谱图，就可以分析出待检测物质。本发明可以作为物质检测仪器应用于精密分析领域中。
-
公开(公告)号：CN104599919A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201410782447.9
申请日：2014-12-16
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
CPC classification number: H01J3/08
Abstract: 本发明公开了一种电场电位梯度发生装置及其控制方法，装置包括电场电位梯度发生模块、离子发生系统以及信号处理系统；其中，电场电位梯度发生模块由多个电场环片和多个绝缘环体组成；电路控制系统可以控制电场强度；离子流进入电场电位梯度发生模块中可以获得一恒定的速度，从而可以得出离子流的飞行时间，经过信号处理系统处理后，就可以分析出离子的种类，达到对气体介质中的物质进行检测的目的。本发明可以作为分析器应用于精密分析仪器中。
-
公开(公告)号：CN104538278A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410782486.9
申请日：2014-12-16
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种离子迁移发生装置及其控制方法，它包括离子发生引出单元、电场电位梯度发生单元、离子信息采集单元和电路控制系统；其中，离子发生引出单元包括离子发生模块、气路模块、离子引出模块、离子控制门模块；电场电位梯度发生单元由多个电场环片和多个绝缘环体组成；离子信息采集单元包括离子流接收器、离子流接收器绝缘体、离子流接收器屏蔽杯和离子流片；在电路控制系统的作用下，离子发生引出单元将样品气体以离子的形式激发后进入电场电位梯度发生单元，由于不同离子在电场中的飞行时间不同(运动速度不同)，所以将此信息采集后形成谱图，就可以分析出待检测物质。本发明可以作为物质检测仪器应用于精密分析领域中。
-
公开(公告)号：CN104535643A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410781908.0
申请日：2014-12-16
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01N27/66
Abstract: 本发明公开了一种离子发生引出装置及其控制方法，它包括离子发生模块、气路模块、离子引出模块、离子控制门模块和电路控制系统的控制方法。通过离子发生模块将气路模块引进的气体电离产生所需要的离子，在离子引出模块的电场作用下将离子引出，引出和停止状态由离子控制门模块控制。离子发生、引出和停止过程由电路控制系统完成。通过对引出离子的分析，达到对气体介质中的物质进行检测的目的。本发明可以作为激发源应用于精密分析仪器中。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.038 seconds)
