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公开(公告)号：CN115969403A
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202310018817.0
申请日：2023-01-06
Applicant: 中国科学院近代物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种带电粒子CT成像的探测方法及系统。包括：获取带电粒子束的束流参数，并根据所述束流参数计算所述带电粒子束流出射的相对位置以及各个探测器的调节位置，所述探测器包括所述带电粒子束通过待测物之前的上游探测器以及通过所述待测物之后的数字探测器；控制所述上游探测器和所述数字探测器的位置至对应的所述调节位置；接收所述带电粒子束，依次经过所述上游探测器、所述待测物以及所述数字探测器，以数字信号的方式读取所述上游探测器和所述数字探测器的探测信息；根据所述探测信息生成Sinogram图像，并进行初步图像处理；根据初步图像处理的Sinogram图像，基于图像重建算法生成断层扫描图像。本发明能提高数据处理效率，精准测量粒子轨迹。
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