快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法

    公开(公告)号:CN113655361B

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN202110928544.4

    申请日:2021-08-13

    Abstract: 本发明公开了快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法。本发明快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法,包括如下步骤:(1)用不同辐照剂量的快重离子辐照LED芯片使其内部形成不同程度的损伤;(2)对辐照后的LED芯片进行封装,检测不同辐照剂量的LED芯片在同一激发电流下的发光强度;(3)对发光强度与辐照剂量或发光强度与辐照损伤程度的关系进行拟合,得到拟合曲线和/或拟合方程;根据所述拟合曲线和/或拟合方程预测LED器件的老化寿命;所述辐照损伤程度为原子的平均离位次数。本发明采用快重离子辐照技术,在发光活性层只沉积能量且损伤程度可控,可在几分钟之内完成LED的老化实验,克服了传统应力老化试验耗时长、能耗高及实验过程复杂的缺点。

    核辐射探测器及其制作工艺

    公开(公告)号:CN1773309A

    公开(公告)日:2006-05-17

    申请号:CN200410073283.9

    申请日:2004-11-11

    Abstract: 本发明主要涉及一种核辐射探测器,尤其涉及在高能物理和核物理中使用的位置灵敏探测器及其制作工艺。一种核辐射探测器,包括有硅基片,N型,其主要特点是还包括有探测窗口(1)由相互平行的多个探测窗口(1)组成,有B+掺杂区(3),形成PN结,其上有Al层(2),并设有引线(7);两探测窗口(1)之间设有绝缘分割区(4);硅基片背面有P-掺杂区(5),形成N+欧姆接触,其上复有Al层(6),形成背电极。本发明的核辐射探测器具有优良的电特性和探测特性。在核物理实验中能同时测量核反应产物的能量和位置(角分布)信息,在得到非常好的位置分辨的同时得到相当好的能量分辨率。由于在工艺流程中严格控制和严格操作,采取特殊Cl离子处理,减少了SiO2层中的正电荷。并减少了SiO2-Si界面附近的表面态,使探测器的反向漏电流比其他工艺例如面垒工艺制备的探测器下降1~2个量级,达到nA量级。

    快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法

    公开(公告)号:CN113655361A

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN202110928544.4

    申请日:2021-08-13

    Abstract: 本发明公开了快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法。本发明快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法,包括如下步骤:(1)用不同辐照剂量的快重离子辐照LED芯片使其内部形成不同程度的损伤;(2)对辐照后的LED芯片进行封装,检测不同辐照剂量的LED芯片在同一激发电流下的发光强度;(3)对发光强度与辐照剂量或发光强度与辐照损伤程度的关系进行拟合,得到拟合曲线和/或拟合方程;根据所述拟合曲线和/或拟合方程预测LED器件的老化寿命;所述辐照损伤程度为原子的平均离位次数。本发明采用快重离子辐照技术,在发光活性层只沉积能量且损伤程度可控,可在几分钟之内完成LED的老化实验,克服了传统应力老化试验耗时长、能耗高及实验过程复杂的缺点。

    核辐射探测器及其制作工艺

    公开(公告)号:CN100405083C

    公开(公告)日:2008-07-23

    申请号:CN200410073283.9

    申请日:2004-11-11

    Abstract: 本发明主要涉及一种核辐射探测器,尤其涉及在高能物理和核物理中使用的位置灵敏探测器及其制作工艺。一种核辐射探测器,包括有硅基片,N型,其特征是探测窗口(1)是由相互平行的多个探测窗口(1)组成,有B+掺杂区(3),形成PN结,其上有Al层(2),并设有引线(7);两探测窗口(1)之间设有绝缘SiO2分割区(4);硅基片背面有P-掺杂区(5),形成N+欧姆接触,其上复有Al层(6),形成背电极。本发明的核辐射探测器具有优良的电特性和探测特性。在核物理实验中能同时测量核反应产物的能量和位置(角分布)信息,在得到非常好的位置分辨的同时得到相当好的能量分辨率。由于在工艺流程中严格控制和严格操作,采取特殊Cl离子处理,减少了SiO2层中的正电荷。并减少了SiO2-Si界面附近的表面态,使探测器的反向漏电流比其他工艺例如面垒工艺制备的探测器下降1~2个量级,达到nA量级。

    卫星用半导体探测器
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2406339Y

    公开(公告)日:2000-11-15

    申请号:CN99256172.8

    申请日:1999-12-30

    Abstract: 本实用新型涉及一种卫星用半导体探测器,包括电机、管壳、绝缘垫、硅片;在电极上直接联有电极引线,且所述的硅片的初始表面粗糙度为M20—30;本实用新型的锂附着率高、可减少半导体材料缺陷,在保护槽内作表面处理并在槽内填以绝缘物质;具有极好的长期稳定性、抗振动、抗干扰能力。

    硅多条探测器信号引出装置

    公开(公告)号:CN2793749Y

    公开(公告)日:2006-07-05

    申请号:CN200420086216.6

    申请日:2004-11-11

    Abstract: 本实用新型主要涉及一种核辐射探测器的结构,尤其涉及在高能物理和核物理中使用的位置灵敏探测器的信号引出装置的结构。一种硅多条探测器信号引出装置,包括有在电路板(1)上设有多个独立的正电极(4)及负电极(2),其主要特点是还包括有在电路板(1)设有镂空的窗口(3),硅多条探测器(5)设于窗口(3)之上,芯片(5)的正输出端连线与正电极(4)连接;硅多条探测器(5)的背面负输出端通过导电橡胶(6)与负电极(2)相联。本实用新型的有益效果是设计合理,信号引出可靠,损失小,具有优良的电特性和探测特性。

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