次级束剖面探测器及其使用方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119882008A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510380786.2

    申请日:2025-03-28

    Abstract: 本发明涉及重离子加速器束流诊断技术领域,特别是涉及一种次级束剖面探测器及其使用方法。次级束剖面探测器包括:探头组件,设置有用于产生二次电子的发射膜和用于提供电场的高压丝网;运动探针,包括外管、套接于所述外管的真空密封法兰以及与所述外管滑动连接的内管;相机,安装于所述真空密封法兰并位于所述外管的下方;其中,所述探头组件安装于所述内管悬伸出所述外管的端头,所述探头组件还包括与所述发射膜平行间隔设置的MCP组件和荧光屏;所述荧光屏与所述相机的镜头倾斜45°并且其中心重合于所述相机镜头的中心轴线。本发明中,探头组件采用微通道板结合荧光屏的读出方式,可以用于测量较大流强范围的束流剖面,兼顾了强弱次级束束流。

    一种束流散射靶装置和束流能散分析器

    公开(公告)号:CN111175806B

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202010019776.3

    申请日:2020-01-08

    Abstract: 本发明涉及一种束流散射靶装置和束流能散分析器。所述束流散射靶装置包括限流板和散射靶,所述散射靶与所述限流板呈一斜角设置,其中,斜角与探测器的位置有关,假设散射靶中心到探测器中心的连线与束流之间的夹角为A,则所述斜角等于A的一半;所述限流板为钽铜复合板,所述限流板上设有限流孔,所述限流板在所述限流孔周围设有散热通道;所述散射靶的入射面中心与所述限流板的限流孔中心线同轴。本发明能有效降低束流在靶内的能量歧离,提高了装置的能量分辨率;本发明的结构,有效提高了靶系统的耐热性,从而可以测量更高功率的束流;粒子探测器具有较好耐辐照性能和良好加工性,导热性良好,机械性能好,抗折强度高。

    一种用于靶前束晕及剖面探测的丝靶及装置

    公开(公告)号:CN113484899A

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202110726814.3

    申请日:2021-06-29

    Abstract: 本发明涉及一种用于靶前束晕及剖面探测的丝靶及装置。所述丝靶沿束流前进方向依次包括:第一偏压丝层,设置倾斜偏压丝,被配置为对杂散电子进行抑制;第一信号丝层,设置水平平行信号丝或设置竖直平行信号丝,被配置为对束流进行垂直剖面的测量或被配置为对束流进行水平剖面的测量;第二信号丝层,设置竖直平行信号丝或设置水平平行信号丝,被配置为对束流进行水平剖面的测量或被配置为对束流进行垂直剖面的测量;第二偏压丝层,设置倾斜偏压丝,被配置为对杂散电子进行抑制;金属刮束片层,设置金属片,被配置为阻挡及测量束晕边缘的粒子。本发明能够高效抑制高辐射区反冲剂量和杂散电子干扰,并能进行靶前束流边缘粒子即束晕的测量。

    一种束流散射靶装置和束流能散分析器

    公开(公告)号:CN111175806A

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN202010019776.3

    申请日:2020-01-08

    Abstract: 本发明涉及一种束流散射靶装置和束流能散分析器。所述束流散射靶装置包括限流板和散射靶,所述散射靶与所述限流板呈一斜角设置,其中,斜角与探测器的位置有关,假设散射靶中心到探测器中心的连线与束流之间的夹角为A,则所述斜角等于A的一半;所述限流板为钽铜复合板,所述限流板上设有限流孔,所述限流板在所述限流孔周围设有散热通道;所述散射靶的入射面中心与所述限流板的限流孔中心线同轴。本发明能有效降低束流在靶内的能量歧离,提高了装置的能量分辨率;本发明的结构,有效提高了靶系统的耐热性,从而可以测量更高功率的束流;粒子探测器具有较好耐辐照性能和良好加工性,导热性良好,机械性能好,抗折强度高。

    位置灵敏的飞行时间探测器及其使用方法

    公开(公告)号:CN119916427A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202510400884.8

    申请日:2025-04-01

    Abstract: 本发明涉及原子核物理、粒子物理和核天体物理实验技术领域,特别是涉及一种位置灵敏的飞行时间探测器及其使用方法。飞行时间探测器包括:探测器场笼,设置有用于产生二次电子的发射膜以及用于提供二次电子引导所需电场的高压丝网;延迟线读出板,平行间隔地设置在所述发射膜的上方;锥形阳极读出,平行间隔地设置在所述发射膜的下方;其中,所述延迟线读出板和所述锥形阳极读出在朝向所述发射膜的一侧各自设置有一个MCP组件;所述MCP组件与所述延迟线读出板配合以提供位置信息,所述MCP组件与所述锥形阳极读出配合以提供时间信息。飞行时间探测器结合了位置读出部分和时间读出部分,既能独立地对时间分辨和位置分辨进行优化,又能使结构紧凑。

    一种用于靶前束晕及剖面探测的丝靶及装置

    公开(公告)号:CN113484899B

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202110726814.3

    申请日:2021-06-29

    Abstract: 本发明涉及一种用于靶前束晕及剖面探测的丝靶及装置。所述丝靶沿束流前进方向依次包括:第一偏压丝层,设置倾斜偏压丝,被配置为对杂散电子进行抑制;第一信号丝层,设置水平平行信号丝或设置竖直平行信号丝,被配置为对束流进行垂直剖面的测量或被配置为对束流进行水平剖面的测量;第二信号丝层,设置竖直平行信号丝或设置水平平行信号丝,被配置为对束流进行水平剖面的测量或被配置为对束流进行垂直剖面的测量;第二偏压丝层,设置倾斜偏压丝,被配置为对杂散电子进行抑制;金属刮束片层,设置金属片,被配置为阻挡及测量束晕边缘的粒子。本发明能够高效抑制高辐射区反冲剂量和杂散电子干扰,并能进行靶前束流边缘粒子即束晕的测量。

    一种适用于低能强流束的扫描式剖面测量靶头和装置

    公开(公告)号:CN116840885A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310447388.9

    申请日:2023-04-24

    Abstract: 本发明属于加速器束流诊断技术领域,涉及一种适用于低能强流束的扫描式剖面测量靶头和装置,包括:狭缝部、偏压部、收集部和固定支架;所述狭缝部,其中间设置狭缝的复合板,用于对束流进行阻挡,仅允许所述狭缝内的束流通过;所述偏压部,其中间设置与所述狭缝对应的切口,用于通过高压抑制二次电子;所述收集部,为V型倒锥体,其开口朝向所述偏压部,用于对通过所述狭缝的电子进行收集;所述固定支架,用于依束流传播方向依次固定所述狭缝部、偏压部和收集部。以满足强流加速器在中低能区域频繁和准确的剖面测量需求。

    一种基于残余气体电离的纵向团束测量装置及方法

    公开(公告)号:CN116482743A

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202310392921.6

    申请日:2023-04-13

    Abstract: 本发明涉及一种基于残余气体电离的纵向团束测量装置及方法,包括:高压静电场部,用于提供使信号粒子向探测端运动的均匀高压静电场;微通道板MCP,分别设置在微带线PCB板和同轴渐变圆锥的前端,用于对采集到的信号粒子进行雪崩放大;微带线PCB板,用于采集第一带宽的信号粒子;同轴渐变圆锥,用于采集第二带宽的信号粒子;第一带宽高于第二带宽;微带线PCB板和同轴渐变圆锥位于高压静电场部相对的两端;示波器分别连接微带线PCB板和同轴渐变圆锥,用于对微带线PCB板和同轴渐变圆锥采集的信号粒子进行处理和显示。其具备非拦截式测量特点,且属于粒子探测机制,可实现数十皮秒量级的束团长度测量,以满足高功率加速器的高动态范围束团长度的测量。

    一种用于微弱束流的流强探测系统

    公开(公告)号:CN112987076B

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202110176237.5

    申请日:2021-02-07

    Abstract: 本发明属于加速器中离子束探测技术领域。涉及一种用于微弱束流的流强探测系统,包括:探测腔体,探测探头、高阻放大器、带通滤波器、可调放大衰减模块组和频谱仪;探测探头设置在探测腔体中,用于检测微弱束流信号;高阻放大器设置在探测腔体的外侧,用于放大微弱束流信号;带通滤波器接收经过放大的信号,并过滤掉经过放大的信号中的低频干扰噪音与高频谐波;可调放大衰减模块组,通过控制衰减器工作模式,将经过滤波的信号幅度控制在预设范围内,并将位于预设范围内的信号传输至频谱仪;频谱仪,用于根据预设范围内的信号获得微弱束流的流强。其无需阻拦束流的前进,能够对nA级别的束流产生有效信号,并满足高灵敏度,低造价等要求。

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