公开(公告)号：CN105738795B

公开(公告)日：2018-10-09

申请号：CN201610109126.1

申请日：2016-02-26

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 沈海华 ,  汪文祥

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提出一种用于硅后芯片验证的翻转覆盖率检测方法及装置，涉及超大规模集成电路设计验证领域，该方法包括对所述芯片中待验证RTL级进行硅前仿真验证，采集并统计所有触发器的翻转覆盖率，对所有所述翻转覆盖率进行分析，将所有所述翻转覆盖率按照翻转次数进行排序；将所述待验证RTL级综合为门级网表，为所述门级网表插入测试扫描电路，统计所述芯片中触发器的个数为FF_COUNT_REUSED，选择翻转次数最少的FF_RARELY_COVERED个触发器作为检测对象，将所述检测对象分为FF_COUNT_REUSED个组，在所述芯片中插入计数器逻辑电路统计输出每组所述检测对象的翻转次数。

公开(公告)号：CN105738795A

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201610109126.1

申请日：2016-02-26

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 沈海华 ,  汪文祥

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2894

Abstract: 本发明提出一种用于硅后芯片验证的翻转覆盖率检测方法及装置，涉及超大规模集成电路设计验证领域，该方法包括对所述芯片中待验证RTL级进行硅前仿真验证，采集并统计所有触发器的翻转覆盖率，对所有所述翻转覆盖率进行分析，将所有所述翻转覆盖率按照翻转次数进行排序；将所述待验证RTL级综合为门级网表，为所述门级网表插入测试扫描电路，统计所述芯片中触发器的个数为FF_COUNT_REUSED，选择翻转次数最少的FF_RARELY_COVERED个触发器作为检测对象，将所述检测对象分为FF_COUNT_REUSED个组，在所述芯片中插入计数器逻辑电路统计输出每组所述检测对象的翻转次数。