公开(公告)号：CN101566669B

公开(公告)日：2011-06-01

申请号：CN200810104816.3

申请日：2008-04-24

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 杨旭 ,  张戈 ,  胡伟武

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了本发明公开了一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法。该电路装置包括一个二选一电路模块，三个触发器以及一个表决器。其在实现存储节点三模冗余的同时实现了扫描触发器的功能，以简单的数字逻辑电路和较小的代价，提高半导体集成电路芯片的可靠性和可测性。

公开(公告)号：CN101566669A

公开(公告)日：2009-10-28

申请号：CN200810104816.3

申请日：2008-04-24

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 杨旭 ,  张戈 ,  胡伟武

IPC: G01R31/3185

Abstract: 本发明公开了一种半导体集成电路装置及其可靠性测试装置和测试方法。该电路装置包括一个二选一电路模块，三个触发器以及一个表决器。其在实现存储节点三模冗余的同时实现了扫描触发器的功能，以简单的数字逻辑电路和较小的代价，提高半导体集成电路芯片的可靠性和可测性。