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公开(公告)号：CN115183885B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202210657773.1
申请日：2022-06-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明为解决现有脉冲载波包络相位噪声测量方法，存在测量条件苛刻，测量系统复杂的问题，而一种超短脉冲载波包络相位噪声单发测量装置及测量方法。该装置包括依次设置的双孔透光片、凹面镜和介质片；待测脉冲经双孔透光片上的两个大小不同的小孔将待测脉冲分成两个脉冲，较强的脉冲为调制脉冲；在较弱的脉冲的光路上设置有双折射延迟片，将透射后脉冲变成两个不同延时的共线的采样脉冲；调制脉冲和采样脉冲平行入射至凹面镜，经凹面镜反射后正入射至介质片；在采样脉冲反射光路上依次设有偏振器、透镜和能量探测器；采样脉冲经偏振器在空间上分光，再依次入射至透镜聚焦和能量探测器；利用光场诱导反射率调制得到待测脉冲的CEP变化。
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公开(公告)号：CN110231099A
公开(公告)日：2019-09-13
申请号：CN201910567971.7
申请日：2019-06-27
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明属于阿秒光学及光电子技术领域，涉及一种准实时阿秒脉冲测量方法及系统。解决了现有的阿秒脉冲测量方法耗时长，测量系统庞大，各项参数稳定性的问题，具体方法是使红外光以一定的传播角度作用于阿秒脉冲产生的光电子，使得阿秒脉冲在不同空间位置上产生的光电子受到不同强度的红外光的调制，从而将光电子时间-能谱图中的时间信息映射到空间，不再需要对红外光和待测阿秒脉冲进行延时扫描，从而大大缩短测量阿秒脉冲所需要的时间。
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公开(公告)号：CN115183885A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210657773.1
申请日：2022-06-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明为解决现有脉冲载波包络相位噪声测量方法，存在测量条件苛刻，测量系统复杂的问题，而一种超短脉冲载波包络相位噪声单发测量装置及测量方法。该装置包括依次设置的双孔透光片、凹面镜和介质片；待测脉冲经双孔透光片上的两个大小不同的小孔将待测脉冲分成两个脉冲，较强的脉冲为调制脉冲；在较弱的脉冲的光路上设置有双折射延迟片，将透射后脉冲变成两个不同延时的共线的采样脉冲；调制脉冲和采样脉冲平行入射至凹面镜，经凹面镜反射后正入射至介质片；在采样脉冲反射光路上依次设有偏振器、透镜和能量探测器；采样脉冲经偏振器在空间上分光，再依次入射至透镜聚焦和能量探测器；利用光场诱导反射率调制得到待测脉冲的CEP变化。
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公开(公告)号：CN116952397A
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202310774808.4
申请日：2023-06-28
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供了一种基于基频光调制采样的激光脉冲特性测量装置及方法，用于解决现有测量光路中由于采用多个透射式光学元件且引入了定量的材料色散，导致对少周期乃至单周期的飞秒超短脉冲激光不能简单、有效测量的技术问题。本发明提供的测量装置设置有第一光阑，将待测超短脉冲激光通过第一光阑上大孔的光作为泵浦光，通过小孔的光作为信号光；泵浦光依次经第二反射镜、凹面镜、介质反射后，被遮挡物完全遮挡；信号光依次经第一反射镜、凹面镜、介质反射后，再通过第二光阑的边缘区域及透镜聚焦至光谱仪；通过移动第一反射镜或第二反射镜上的延时线，对不同延时下信号光光强进行采样，获得不同延时下基频光调制强度曲线。
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公开(公告)号：CN110231099B
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201910567971.7
申请日：2019-06-27
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明属于阿秒光学及光电子技术领域，涉及一种准实时阿秒脉冲测量方法及系统。解决了现有的阿秒脉冲测量方法耗时长，测量系统庞大，各项参数稳定性的问题，具体方法是使红外光以一定的传播角度作用于阿秒脉冲产生的光电子，使得阿秒脉冲在不同空间位置上产生的光电子受到不同强度的红外光的调制，从而将光电子时间‑能谱图中的时间信息映射到空间，不再需要对红外光和待测阿秒脉冲进行延时扫描，从而大大缩短测量阿秒脉冲所需要的时间。
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