一种多自由度工业X射线断层成像系统

    公开(公告)号:CN107515229B

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN201710806216.0

    申请日:2017-09-08

    Abstract: 本发明公开了一种多自由度工业X射线断层成像系统,其包括:X射线源,其产生的X射线照射置于载物台上的待检对象;探测器,其探测穿过所述待检对象的X射线;载物台,其设有摆角调节机构,所述摆角调节机构驱动所述载物台绕Y轴摆动;其中,所述X射线源和探测器均具有Z向自由度。本申请提供的技术方案可实现待检工件的两种成像模式,通过载物台摆角调整功能和X射线源与探测器的反方向同步联动曝光采集可实现待检工件的多角度层析成像,通过载物台摆角调整和载物台的旋转相配合可实现待检工件的多角度断层重建成像,从而更好的满足工业检测的需求。

    一种多自由度工业X射线断层成像系统

    公开(公告)号:CN107515229A

    公开(公告)日:2017-12-26

    申请号:CN201710806216.0

    申请日:2017-09-08

    Abstract: 本发明公开了一种多自由度工业X射线断层成像系统,其包括:X射线源,其产生的X射线照射置于载物台上的待检对象;探测器,其探测穿过所述待检对象的X射线;载物台,其设有摆角调节机构,所述摆角调节机构驱动所述载物台绕Y轴摆动;其中,所述X射线源和探测器均具有Z向自由度。本申请提供的技术方案可实现待检工件的两种成像模式,通过载物台摆角调整功能和X射线源与探测器的反方向同步联动曝光采集可实现待检工件的多角度层析成像,通过载物台摆角调整和载物台的旋转相配合可实现待检工件的多角度断层重建成像,从而更好的满足工业检测的需求。

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