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公开(公告)号：CN112541431A
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN202011455217.3
申请日：2020-12-10
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明涉及一种高分辨率图像目标检测方法及系统，所述检测方法包括：根据待检高分辨率图像的尺寸，确定分块基准比例大小；根据所述待检高分辨率图像的尺寸、分块基准比例大小，以及待检目标的最大尺寸，对待检高分辨率图像进行分块，得到多个基准块图像；针对每一基准块图像，通过检测设备检测基准块图像中的目标，确定检测时间；根据各检测时间及各基准块图像，确定分块效率函数；根据分块效率函数，确定最优分块比例；根据最优分块比例，对所述待检高分辨率图像进行二次分块，得到多个子图像；通过检测设备检测，可快速、准确的确定各子图像中目标，使得检测设备的硬件资源的利用率最高。
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公开(公告)号：CN115082775B
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202210888803.X
申请日：2022-07-27
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G06V20/00 , G06V10/774 , G06T11/40 , G06T3/40
Abstract: 本发明属于目标检测领域，具体涉及一种基于图像分块的超分辨率增强小目标检测方法、系统、设备，旨在解决解决现有的小目标检测方法检测准确率较低的问题。本方法包括：获取待进行小目标检测的场景图像，作为输入图像；计算输入图像分块时标准块的宽高；得到输入图像在水平方向、垂直方向上分块的步长；对输入图像进行填充，并对填充后的输入图像进行分块，得到输入图像分块后各图像块；采用预训练的超分别率模型对得到的各图像块进行图像增强，增强后，输入训练好的目标检测模型，得到输入图像中各图像块中小目标物体对应的矩形区域，并进行回归、非极大值抑制处理，进而得到检测结果。本发明提高了小目标检测的准确率。
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公开(公告)号：CN112541431B
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202011455217.3
申请日：2020-12-10
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明涉及一种高分辨率图像目标检测方法及系统，所述检测方法包括：根据待检高分辨率图像的尺寸，确定分块基准比例大小；根据所述待检高分辨率图像的尺寸、分块基准比例大小，以及待检目标的最大尺寸，对待检高分辨率图像进行分块，得到多个基准块图像；针对每一基准块图像，通过检测设备检测基准块图像中的目标，确定检测时间；根据各检测时间及各基准块图像，确定分块效率函数；根据分块效率函数，确定最优分块比例；根据最优分块比例，对所述待检高分辨率图像进行二次分块，得到多个子图像；通过检测设备检测，可快速、准确的确定各子图像中目标，使得检测设备的硬件资源的利用率最高。
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公开(公告)号：CN115082775A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210888803.X
申请日：2022-07-27
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G06V20/00 , G06V10/774 , G06T11/40 , G06T3/40
Abstract: 本发明属于目标检测领域，具体涉及一种基于图像分块的超分辨率增强小目标检测方法、系统、设备，旨在解决解决现有的小目标检测方法检测准确率较低的问题。本方法包括：获取待进行小目标检测的场景图像，作为输入图像；计算输入图像分块时标准块的宽高；得到输入图像在水平方向、垂直方向上分块的步长；对输入图像进行填充，并对填充后的输入图像进行分块，得到输入图像分块后各图像块；采用预训练的超分别率模型对得到的各图像块进行图像增强，增强后，输入训练好的目标检测模型，得到输入图像中各图像块中小目标物体对应的矩形区域，并进行回归、非极大值抑制处理，进而得到检测结果。本发明提高了小目标检测的准确率。
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