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发明公开
政策关联影响分析方法、装置、电子设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN114357111A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202111619071.6

申请日：2021-12-27

Applicant: 中国科学院自动化研究所

Inventor： 李秋丹 , 钱昊达 , 王林子 , 彭鑫 , 曾大军

IPC: G06F16/33 , G06F40/30 , G06N3/04 , G06N3/08

Abstract: 本发明公开了一种政策关联影响分析方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：构建目标异质信息网络，构建预训练语言模型以及构建目标向量运算模型；获取待测政策数据，待测政策数据包括政策要素以及政策要素之间的关联关系，政策要素包括政策内容和政策背景；将待测政策数据映射至目标异质信息网络中，得到包含关联关系的政策要素的节点学习结果；将待测政策数据映射至预训练语言模型中，得到包含政策背景的政策内容的训练学习结果；将节点学习结果和训练学习结果映射至目标向量运算模型中，得到政策关联影响分析结果。本发明信息利用充分、分析结果准确度高。

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