公开(公告)号：CN115063789A

公开(公告)日：2022-09-16

申请号：CN202210574052.4

申请日：2022-05-24

Applicant: 中国科学院自动化研究所

Inventor： 张兆翔 ,  李颖彦 ,  陈韫韬 ,  何嘉伟

IPC: G06V20/64 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06V10/74 ,  G06V10/40

Abstract: 本发明提供一种基于关键点匹配的3D目标检测方法及装置，其中方法包括：对二维图像进行目标检测，得到二维图像所包含目标的各关键点的二维坐标和三维坐标；基于各关键点的二维坐标和三维坐标，确定目标的各二维边和各三维边；对目标进行深度估计，得到各二维边和各三维边对应的候选深度；基于目标的各二维边的边特征和各三维边的边特征之间的差异，确定各二维边与各三维边之间的相似度；基于各二维边和各三维边对应的候选深度，以及各二维边与各三维边之间的相似度，确定目标的目标深度；基于目标的目标深度，进行3D目标检测。在此基础上，将得到的目标深度应用于目标检测，能够保证目标检测的可靠性和准确性。

公开(公告)号：CN115063789B

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN202210574052.4

申请日：2022-05-24

Applicant: 中国科学院自动化研究所

Inventor： 张兆翔 ,  李颖彦 ,  陈韫韬 ,  何嘉伟

IPC: G06V20/64 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06V10/74 ,  G06V10/40

Abstract: 本发明提供一种基于关键点匹配的3D目标检测方法及装置，其中方法包括：对二维图像进行目标检测，得到二维图像所包含目标的各关键点的二维坐标和三维坐标；基于各关键点的二维坐标和三维坐标，确定目标的各二维边和各三维边；对目标进行深度估计，得到各二维边和各三维边对应的候选深度；基于目标的各二维边的边特征和各三维边的边特征之间的差异，确定各二维边与各三维边之间的相似度；基于各二维边和各三维边对应的候选深度，以及各二维边与各三维边之间的相似度，确定目标的目标深度；基于目标的目标深度，进行3D目标检测。在此基础上，将得到的目标深度应用于目标检测，能够保证目标检测的可靠性和准确性。