卫星材料表面的二次电子发射率的测量装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN106033065A

    公开(公告)日:2016-10-19

    申请号:CN201510112643.X

    申请日:2015-03-13

    Abstract: 本发明提出了一种卫星材料表面的二次电子发射率的测量装置及使用此装置的方法。该测量装置包括:粒子枪、电子检测仪、法拉第杯、真空罐、转台和控制台,其中粒子枪用来输出测量过程中所需要的粒子束流,包括电子或离子;真空罐为测试提供真空腔体空间;转台安装于真空罐的底部,用来为待测材料样品和电子检测仪和粒子束流提供适当的配合位置;电子检测仪用来测量待测材料表面的二次电子的发射强度;法拉第杯用来测量入射粒子的强度;控制台用来对法拉第杯、电子检测仪进行数据采集,并控制待测材料样品的电位。

    卫星金属表面的二次电子发射的测量装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN105987924A

    公开(公告)日:2016-10-05

    申请号:CN201510073081.2

    申请日:2015-02-11

    Abstract: 一种用于卫星金属表面的二次电子发射的测量装置,包括:粒子枪、真空罐、转台、束流检测仪、电流检测仪和控制台,其中:粒子枪用于输出测试所需要的包括电子或离子的粒子束流;真空罐用于为测试过程提供真空腔体空间,且粒子枪与真空罐壁通过粒子输运管道连接;转台,安装于真空罐的底部,用来为待测金属样品和束流检测仪、粒子束流提供适当配合位置;束流检测仪用于测量由粒子输运管道出射而运动至金属表面的粒子流的强度;电流检测仪用于检测入射粒子电荷流与金属样品表面发射的二次电子流的叠加电流;控制台用于对束流检测仪、电流检测仪进行数据采集,并控制待测金属样品和电流检测仪的电位。

    一种卫星深层充电电位的探测装置

    公开(公告)号:CN105319426A

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201410378404.4

    申请日:2014-08-01

    Abstract: 本发明提供一种卫星深层充电电位探测装置,包括:遮挡金属板(1)、测试介质板(2)、金属压条(3)、上电极(4)、下电极(5)、旋转金属板(6)、电机(7)及探测装置外壳(8),其中遮挡金属板(1)安装在探测装置外壳(8)上;测试介质板(2)采用绝缘材料制成,安装在探测装置外壳(8)上,用于收集穿透遮挡金属板(1)的空间带电粒子;金属压条(3)嵌入在测试介质板(2)内,且通过导线与上电极(4)相连;旋转金属板(6)安装在上电极(4)和下电极(5)中间,且其周边设置有规则的空隙,并且其与电机(7)相连以便在电机(7)的带动下旋转。

    一种卫星深层充电探测装置、系统及卫星

    公开(公告)号:CN105277817A

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201410342354.4

    申请日:2014-07-17

    Abstract: 本发明提供了一种卫星深层充电探测装置、系统及卫星,包括:遮挡金属板、电荷收集板、绝缘环、探测装置外壳及继电器;其中所述遮挡金属板为片形结构,采用金属材料制成,安装在所述探测装置外壳上;所述电荷收集板为片形结构,采用金属材料制成,通过绝缘环安装在所述探测装置外壳上;所述电荷收集极通过导线与继电器相连,继电器受到控制电路控制;所述绝缘环为环状结构,安装在所述探测装置上,环形结构内表面有凹槽,凹槽尺寸与所述电荷收集板匹配;所述探测装置嵌入式安装在卫星表面,且所述探测装置的朝向太空方向没有遮挡。

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