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公开(公告)号：CN119335018A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202310895831.9
申请日：2023-07-20
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明属于薄膜半导体材料领域，尤其涉及一种手性对映体检测装置及其制备方法与应用，所述检测装置包括探测机构和分析系统，所述分析系统与探测机构连接，所述分析系统用于监测探测机构的电信号变化；所述探测机构包括至少一个R构型的探测片和至少一个S构型的探测片，所述R构型的探测片包括R构型的手性金属有机框架薄膜，所述S构型的探测片包括S构型的手性金属有机框架薄膜；所述手性金属有机框架薄膜中具有手性孔道，所述手性孔道能够选择性结合相反构型的手性物质。本发明的手性金属有机框架薄膜对不同构型的手性物质有不同的结合能力，通过检测光电导数值的方式，能够直观、快速地完成手性对映体的检测。
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公开(公告)号：CN117042476A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310729376.5
申请日：2023-06-19
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
Abstract: 本发明属于薄膜材料领域，尤其涉及一种基于手性金属有机框架薄膜的圆偏振探测器及其制备方法与应用，所述圆偏振探测器包括感光层，所述感光层包括手性金属有机框架薄膜，所述手性金属有机框架薄膜选自左旋金属有机框架薄膜或右旋金属有机框架薄膜。本发明精简了探测器结构，提高检测能力，降低了生产成本，弥补对于圆偏振光识别过程造成的分辨率损失的缺点，降低生产制造过程对环境的影响。
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公开(公告)号：CN111716612A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN201910204818.8
申请日：2019-03-18
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: B29C41/08
Abstract: 本发明提供一种全自动喷雾式制备薄膜的装置，所述装置是利用全自动交替喷雾液相外延法在基底表面制备薄膜的装置，包括：供气系统，气体调节系统，压力容器，数控系统，雾化喷头，基底支撑架，外部箱体。所述装置可以根据需求对控制系统设置相应参数，能够准确、均匀地喷洒不同原料来覆盖基底，并可调控每种原料与基底接触反应时间，从而有效地制备形貌优异、取向一致的薄膜，特别是层层自组装薄膜材料，具有全自动、精度高、省人力等优点，尤其适合大面积、多层重复、成分复杂的金属-有机框架(MOFs)薄膜制备。
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公开(公告)号：CN210256927U
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201920341569.2
申请日：2019-03-18
Applicant: 中国科学院福建物质结构研究所
IPC: B29C41/08
Abstract: 本实用新型提供一种全自动喷雾式制备薄膜的装置，所述装置是利用全自动交替喷雾液相外延法在基底表面制备薄膜的装置，包括：供气系统，气体调节系统，压力容器，数控系统，雾化喷头，基底支撑架，外部箱体。所述装置可以根据需求对控制系统设置相应参数，能够准确、均匀地喷洒不同原料来覆盖基底，并可调控每种原料与基底接触反应时间，从而有效地制备形貌优异、取向一致的薄膜，特别是层层自组装薄膜材料，具有全自动、精度高、省人力等优点，尤其适合大面积、多层重复、成分复杂的金属-有机框架(MOFs)薄膜制备。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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