用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法

    公开(公告)号:CN110726673B

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN201810784523.8

    申请日:2018-07-17

    Abstract: 本发明公开了一种用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法,包括:外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体,激光器与铁电晶体光路连接,光电探测器与铁电晶体光路连接;外场控制器向铁电晶体施加外场;数据采集控制单元与外场控制器控制连接。该探针以光学信息为检测手段,获取铁电晶体受外场影响发生相变的情况,为铁电晶体相变检测提供新的检测手段。本发明的又一方面还提供了该光学探针的检测方法。

    用于测量大尺寸各向同性透明介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用

    公开(公告)号:CN114384018B

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202111616635.0

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本发明公开了用于测量大尺寸各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法,属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括:聚光腔、固定于所述聚光腔的泵浦源、激光介质和透明介质、谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路;所述激光介质和泵浦源固定于所述聚光腔内,其中,所述激光介质位于聚光腔的焦点处;所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题,本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式,大大提高了检测精度、速度、准确性。

    一种各向同性透明介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用

    公开(公告)号:CN114384019A

    公开(公告)日:2022-04-22

    申请号:CN202111619336.2

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本发明公开了一种各向同性透明介质的弱各向异性测量装置及测量方法,属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括:泵浦源,和依次设置于泵浦源出光侧的谐振腔、放置于谐振腔内的激光介质、放置于谐振腔内的透明介质、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块、指示光路。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法和应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性透明介质的弱各向异性的问题,本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式,大大提高了检测精度、速度、准确性。

    用于测量大尺寸各向同性激光介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用

    公开(公告)号:CN114384068B

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202111619346.6

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本发明公开了用于测量大尺寸各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法,属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括:聚光腔、泵浦源、激光介质、激光谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块;所述泵浦源和激光介质设置于所述聚光腔内,其中,所述激光介质位于聚光腔的焦点处;所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题,本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式,大大提高了检测精度、速度、准确性。

    一种二阶非线性光学测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN110940644A

    公开(公告)日:2020-03-31

    申请号:CN201911113165.9

    申请日:2019-11-14

    Abstract: 本发明公开了一种二阶非线性光学测试装置及其测试方法,所述装置通过激光单元以预设角度小于90°向待测样品发射入射光,待测样品经入射光照射后产生反射光,该反射光为入射光的倍频光,然后利用检测单元接收反射光,并对反射光的信号强度进行检测,得到待测样品表面的二阶非线性光学信息。本发明适用于测试对激光有较强吸收的样品,本发明激光以预设角度入射待测样品,激光仅在待测样品的表面产生反射,避免了待测样品对激光的吸收;另外,本发明激光可以以小于90°的不同入射角入射待测样品,测试不同入射角的反射光信号强度,得到不同入射角待测样品的表面二阶非线性光学信息,测量结果更加可靠,方便快捷。

    用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法

    公开(公告)号:CN110726673A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201810784523.8

    申请日:2018-07-17

    Abstract: 本发明公开了一种用于铁电晶体相变检测的光学探针及其检测方法,包括:外场控制器、激光器、数据采集控制单元、光电探测器和铁电晶体,激光器与铁电晶体光路连接,光电探测器与铁电晶体光路连接;外场控制器向铁电晶体施加外场;数据采集控制单元与外场控制器控制连接。该探针以光学信息为检测手段,获取铁电晶体受外场影响发生相变的情况,为铁电晶体相变检测提供新的检测手段。本发明的又一方面还提供了该光学探针的检测方法。

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