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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108492331A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810227776.5
申请日：2018-03-20
Applicant: 中国科学院地质与地球物理研究所
Abstract: 本申请实施例提供一种基于模拟压汞法获取岩石的孔径分布的方法和装置，该方法包括：获取待测定岩石的岩心的至少部分的三维数字图像，根据该三维数字图像，获取岩心的至少部分包括的孔隙的骨架图像，获取该骨架图像包括的所有点各自对应的孔径值，点对应的孔径值为点距离孔隙边界的最小距离的两倍，根据骨架图像包括的各点各自对应的孔径值，通过模拟压汞法获取待测定岩石的孔隙的孔径分布。本申请的方法，可测定的孔隙尺寸的范围不受限制，可获取各种待测定岩石的孔隙的孔径分布。
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公开(公告)号：CN110174428B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201910541346.5
申请日：2019-06-21
Applicant: 中国科学院地质与地球物理研究所
IPC: G01N23/2255 , G01N23/2202
Abstract: 本发明提供一种岩样成像方法、装置以及系统。该方法包括：获取待成像的岩样，采用电子显微镜成像系统对所述岩样的目标区域进行成像，在对所述岩样的目标区域进行成像的过程中，通过使用纳米机械探针触压所述岩样的目标区域附近位置，使目标区域与外界形成通路，提升了不导电岩样目标区域的导电性，增加了目标区域的电场稳定性，从而能够获得无畸变的系列切割图像，用于重构得到所述目标区域的三维数字岩心，有效还原了不导电岩样的表面特征。
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公开(公告)号：CN110174428A
公开(公告)日：2019-08-27
申请号：CN201910541346.5
申请日：2019-06-21
Applicant: 中国科学院地质与地球物理研究所
IPC: G01N23/2255 , G01N23/2202
Abstract: 本发明提供一种岩样成像方法、装置以及系统。该方法包括：获取待成像的岩样，采用电子显微镜成像系统对所述岩样的目标区域进行成像，在对所述岩样的目标区域进行成像的过程中，通过使用纳米机械探针触压所述岩样的目标区域附近位置，使目标区域与外界形成通路，提升了不导电岩样目标区域的导电性，增加了目标区域的电场稳定性，从而能够获得无畸变的系列切割图像，用于重构得到所述目标区域的三维数字岩心，有效还原了不导电岩样的表面特征。
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公开(公告)号：CN108492331B
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201810227776.5
申请日：2018-03-20
Applicant: 中国科学院地质与地球物理研究所
Abstract: 本申请实施例提供一种基于模拟压汞法获取岩石的孔径分布的方法和装置，该方法包括：获取待测定岩石的岩心的至少部分的三维数字图像，根据该三维数字图像，获取岩心的至少部分包括的孔隙的骨架图像，获取该骨架图像包括的所有点各自对应的孔径值，点对应的孔径值为点距离孔隙边界的最小距离的两倍，根据骨架图像包括的各点各自对应的孔径值，通过模拟压汞法获取待测定岩石的孔隙的孔径分布。本申请的方法，可测定的孔隙尺寸的范围不受限制，可获取各种待测定岩石的孔隙的孔径分布。
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公开(公告)号：CN109270104A
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201811028817.4
申请日：2018-09-05
Applicant: 中国科学院地质与地球物理研究所
IPC: G01N23/2251
Abstract: 本发明涉及三维重构分析技术领域，具体涉及一种制作三维重构基准的方法。本发明旨在解决现有技术中存在的标记容易在扫描过程中被聚焦离子束轰击至模糊，甚至消失的问题。为此目的，本发明提出一种制作三维重构基准的方法，包括如下步骤：确定样品的待切割区域；根据所述待切割区域确定基准区域；在所述基准区域形成标记部分；其中，所述标记部分包括第一保护层以及形成于所述第一保护层上表面的预设标记。相较于现有直接在样品表面刻蚀预设标记，本发明的制作三维重构基准的方法通过在样品表面设置能够耐受离子束轰击的第一保护层并且在第一保护层的上表面形成预设标记以便于第一保护层保护预设标记不会因为离子束的轰击而模糊甚至消失。
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