公开(公告)号：CN103364032B

公开(公告)日：2015-09-16

申请号：CN201310296013.3

申请日：2013-07-15

Applicant: 中国科学院半导体研究所

Inventor： 赵丽霞 ,  周子超 ,  杨华 ,  王军喜 ,  李晋闽

IPC: G01D21/02 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2635 ,  G01R31/2642

Abstract: 本发明公开了一种半导体发光器件或模组在线多功能测试系统及方法，该系统包括电特性发生及测试装置、多个光特性探测及控制装置、光信号处理分析装置、多个热特性探测装置、中央监控及处理计算机、多通道驱动集成控制装置、多个加速多应力控制装置、多个LED器件模组负载装置。利用本发明，实现了在多应力加速老化环境下同时进行加速老化并原位在线监控测试的功能。

公开(公告)号：CN103364032A

公开(公告)日：2013-10-23

申请号：CN201310296013.3

申请日：2013-07-15

Applicant: 中国科学院半导体研究所

Inventor： 赵丽霞 ,  周子超 ,  杨华 ,  王军喜 ,  李晋闽

IPC: G01D21/02 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2635 ,  G01R31/2642

Abstract: 本发明公开了一种半导体发光器件或模组在线多功能测试系统及方法，该系统包括电特性发生及测试装置、多个光特性探测及控制装置、光信号处理分析装置、多个热特性探测装置、中央监控及处理计算机、多通道驱动集成控制装置、多个加速多应力控制装置、多个LED器件模组负载装置。利用本发明，实现了在多应力加速老化环境下同时进行加速老化并原位在线监控测试的功能。