公开(公告)号：CN104034511B

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201410258920.3

申请日：2014-06-12

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 贾建军 ,  白帅 ,  石小丽 ,  王娟娟 ,  杨明冬 ,  秦文

IPC: G01M11/00

Abstract: 本发明公开了一种基于可便携检测装置的光电跟踪性能检测方法。它对待测设备的跟踪范围、跟踪速度和跟踪精度等指标进行测试。本发明为光电跟踪系统提供了大范围、机动性强的动态跟踪靶标，同时可模拟光轴的微振动干扰，且测试系统结构简单，易于搭建和携带，可在不同场合下灵活使用。

公开(公告)号：CN104034510A

公开(公告)日：2014-09-10

申请号：CN201410258819.8

申请日：2014-06-12

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 贾建军 ,  白帅 ,  石小丽 ,  王娟娟 ,  杨明冬 ,  秦文

IPC: G01M11/00

Abstract: 本发明公开了一种可便携的光电跟踪性能检测装置。装置包含二维靶标转台，俯仰轴工作平面，激光器，音圈电机快速指向镜，漫反射屏等。安放于二维靶标转台的俯仰轴工作平面上的激光器发出激光光束，经由快速指向镜发射后打在漫反射屏，形成激光光斑，作为待测设备的跟踪靶标。通过二维靶标转台的大范围运动模拟靶标的相对运动，通过音圈电机快速指向镜的高频小角度偏转模拟光轴受到的微振动干扰。利用装置对待测设备的跟踪范围、跟踪速度和跟踪精度等指标进行测试。本发明为光电跟踪系统提供了大范围、机动性强的动态跟踪靶标，同时可模拟光轴的微振动干扰，且测试系统结构简单，易于搭建和携带，可在不同场合下灵活使用。

公开(公告)号：CN104034511A

公开(公告)日：2014-09-10

申请号：CN201410258920.3

申请日：2014-06-12

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 贾建军 ,  白帅 ,  石小丽 ,  王娟娟 ,  杨明冬 ,  秦文

IPC: G01M11/00

Abstract: 本发明公开了一种基于可便携检测装置的光电跟踪性能检测方法。它对待测设备的跟踪范围、跟踪速度和跟踪精度等指标进行测试。本发明为光电跟踪系统提供了大范围、机动性强的动态跟踪靶标，同时可模拟光轴的微振动干扰，且测试系统结构简单，易于搭建和携带，可在不同场合下灵活使用。

公开(公告)号：CN203965127U

公开(公告)日：2014-11-26

申请号：CN201420310506.8

申请日：2014-06-12

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 贾建军 ,  白帅 ,  石小丽 ,  王娟娟 ,  杨明冬 ,  秦文

IPC: G01M11/00

Abstract: 本专利公开了一种可便携的光电跟踪性能检测装置。装置包含二维靶标转台，俯仰轴工作平面，激光器，音圈电机快速指向镜，漫反射屏等。安放于二维靶标转台的俯仰轴工作平面上的激光器发出激光光束，经由快速指向镜发射后打在漫反射屏，形成激光光斑，作为待测设备的跟踪靶标。通过二维靶标转台的大范围运动模拟靶标的相对运动，通过音圈电机快速指向镜的高频小角度偏转模拟光轴受到的微振动干扰。利用装置对待测设备的跟踪范围、跟踪速度和跟踪精度等指标进行测试。本专利为光电跟踪系统提供了大范围、机动性强的动态跟踪靶标，同时可模拟光轴的微振动干扰，且测试系统结构简单，易于搭建和携带，可在不同场合下灵活使用。