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公开(公告)号:CN105136313A
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201510607701.6
申请日:2015-09-22
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J5/02
Abstract: 本发明公开了一种红外探测器杜瓦组件测试用液氮水平制冷装置及设计方法,它适用于分置式红外探测器杜瓦组件的过程性能测试,也适用于集成式红外探测器杜瓦组件的过程性能测试。主要由液氮腔体壁(1)、液氮腔底(2)、上盖(3)、真空保持罩(4)、压紧螺母(5)、杜瓦组件安装法兰(6)、抽气阀座(7)、抽气阀塞(8)、外壳(9)、冷指(10)、输液管(11)、尾气管(12)、热耦合器(13)等组成。并可通过给定计算公式获得稳定的液氮流量的调节值,再根据调节值通过调节液氮流量调节杆(16)以达到控制液氮流量的目的。本发明解决水平放置红外探测器杜瓦组件光谱测试、电性能测试和系统光学校正时需要液氮制冷的问题。
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公开(公告)号:CN105136313B
公开(公告)日:2018-08-14
申请号:CN201510607701.6
申请日:2015-09-22
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J5/02
Abstract: 本发明公开了一种红外探测器杜瓦组件测试用液氮水平制冷装置及设计方法,它适用于分置式红外探测器杜瓦组件的过程性能测试,也适用于集成式红外探测器杜瓦组件的过程性能测试。主要由液氮腔体壁(1)、液氮腔底(2)、上盖(3)、真空保持罩(4)、压紧螺母(5)、杜瓦组件安装法兰(6)、抽气阀座(7)、抽气阀塞(8)、外壳(9)、冷指(10)、输液管(11)、尾气管(12)、热耦合器(13)等组成。并可通过给定计算公式获得稳定的液氮流量的调节值,再根据调节值通过调节液氮流量调节杆(16)以达到控制液氮流量的目的。本发明解决水平放置红外探测器杜瓦组件光谱测试、电性能测试和系统光学校正时需要液氮制冷的问题。
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公开(公告)号:CN205037975U
公开(公告)日:2016-02-17
申请号:CN201520737188.8
申请日:2015-09-22
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J5/02
Abstract: 本专利公开了一种红外探测器杜瓦组件测试用液氮水平制冷装置,它适用于分置式红外探测器杜瓦组件的过程性能测试,也适用于集成式红外探测器杜瓦组件的过程性能测试。主要由液氮腔体壁(1)、液氮腔底(2)、上盖(3)、真空保持罩(4)、压紧螺母(5)、杜瓦组件安装法兰(6)、抽气阀座(7)、抽气阀塞(8)、外壳(9)、冷指(10)、输液管(11)、尾气管(12)、热耦合器(13)等组成。并可通过给定计算公式获得稳定的液氮流量的调节值,再根据调节值通过调节液氮流量调节杆(16)以达到控制液氮流量的目的。本专利解决水平放置红外探测器杜瓦组件光谱测试、电性能测试和系统光学校正时需要液氮制冷的问题。
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