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发明公开
一种热红外光谱仪内部杂散辐射的测试方法无效

公开(公告)号：CN110231090A

公开(公告)日：2019-09-13

申请号：CN201910178546.9

申请日：2019-03-11

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 刘银年 , 彭俊 , 何琦 , 张营 , 王伯海 , 孙德新

IPC: G01J3/28

Abstract: 本发明公开了一种热红外光谱仪内部杂散辐射的测试方法，使用黑体分别对探测器的全响应波段和热红外光谱仪的光谱通道在一个积分时间下进行辐射测试，通过该方法对探测器和光谱仪分别进行一次测试，即可测量系统当前状态下的内部杂散辐射等效的灰度值和辐射通量，结合测试时的光机温度可得到任意积分时间和任意光机温度下热红外光谱仪的内部杂散辐射的灰度值和辐射通量。本发明所述的方法简单，且能够有效解决热红外光谱仪内部杂散辐射严重影响系统辐射精度和系统定量化的问题，适用于实际工程应用。

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