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公开(公告)号：CN102589964A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201210034327.1
申请日：2012-02-15
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N1/44
Abstract: 本发明提供一种加热装置，用于加热高温熔盐同步辐射原位测试的样品圆片，该加热装置包括：带有样品圆槽的样品池，所述样品圆片容纳于样品圆槽中；在样品池两侧平行于样品池依次设置的加热板和侧隔热板，所述加热板和侧隔热板上分别设有与所述样品圆槽同轴的加热板通光孔和侧隔热板通光孔；覆盖于所述样品池及其两侧的加热板上方的上隔热板，以及平铺于所述样品池及其两侧的加热板下方的下隔热板；用于支撑所述样品池、加热板、侧隔热板、上隔热板和下隔热板的支承座。本发明的加热装置，在样品池两侧平行于样品池设置带有通光孔的加热板，加热均匀高效，降低能耗，通过围绕样品池设置的隔热板获得良好的隔热保温效果，结构紧凑，体积小巧。
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公开(公告)号：CN106483148B
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201610888987.4
申请日：2016-10-11
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N23/00
Abstract: 本发明公开了一种射线微探针的热台，其包括：热台本体，其前壁和后壁上分别对应设有同轴的入射窗口和透射窗口，底部可安装在样品定位台上；加热器；样品夹持器，其套设于高发热面积比加热器内；加热器和样品夹持器均具有通光孔，所述通光孔与所述入射窗口和透射窗口同轴。本发明提供的射线微探针的热台可立式工作，样品温度梯度小。此外，该热台还可具有高透光率、腔体真空、易于对中、样品温度均匀性好、样品种类和形状适应性广、极限工作温度高等特性。此外，本发明还公开了一种热台装置及其实验方法。本发明提供的热台装置背散荧光探测效率高，为试样提供足够的可旋转角和探测角、周全的气氛保护和真空环境。本发明尤其适用于硬X射线微探针。
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公开(公告)号：CN102881347B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201210391151.5
申请日：2012-10-15
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G21K1/06
Abstract: 本发明公开了一种使用波带片将柱面波线光源聚焦为点光斑的方法，其包括下列步骤：根据柱面波线光源的波长确定所使用波带片的焦距f：f=r12/λ，其中r1为波带片第一环的半径，λ为柱面波线光源的波长；根据下述模型确定波带片的旋转角度θ：sin2θ＝f/(p+f)，其中p为柱面波线光源的源距；将波带片放置在柱面波线光源的光路上，并绕着一旋转轴心按照上述旋转角度进行旋转，所述旋转轴心通过波带片的中心，并与柱面波线光源的光轴平行。采用该方法可以将柱面波线光源聚焦为点光斑，并保证具有一定的能量可调性。
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公开(公告)号：CN109839397A
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201910062566.X
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N23/223 , G01N23/04
Abstract: 本发明涉及一种同步辐射共聚焦荧光实验装置中共聚焦微元尺寸测量方法，其包括：将标样的铜系带表面与聚焦X射线的光路方向垂直；得到荧光信号强度与第一Y方向电机的位置的第一关系曲线；将标样的铜系带表面与聚焦X射线的光路方向平行；得到荧光信号强度与第一X方向电机的位置的第二关系曲线；将标样的铜系带表面朝上，使荧光信号以掠入射方式进入毛细管；得到荧光信号强度与第一Z方向电机的位置的第三关系曲线；将第一至第三关系曲线的半高宽作为共聚焦微元的尺寸。通过本发明可以直接对共聚焦微元进行测量，并且有效提高了微小共聚焦微元的测量精度。
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公开(公告)号：CN106483148A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610888987.4
申请日：2016-10-11
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N23/00
CPC classification number: G01N23/00
Abstract: 本发明公开了一种射线微探针的热台，其包括：热台本体，其前壁和后壁上分别对应设有同轴的入射窗口和透射窗口，底部可安装在样品定位台上；加热器；样品夹持器，其套设于高发热面积比加热器内；加热器和样品夹持器均具有通光孔，所述通光孔与所述入射窗口和透射窗口同轴。本发明提供的射线微探针的热台可立式工作，样品温度梯度小。此外，该热台还可具有高透光率、腔体真空、易于对中、样品温度均匀性好、样品种类和形状适应性广、极限工作温度高等特性。此外，本发明还公开了一种热台装置及其实验方法。本发明提供的热台装置背散荧光探测效率高，为试样提供足够的可旋转角和探测角、周全的气氛保护和真空环境。本发明尤其适用于硬X射线微探针。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102881347A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201210391151.5
申请日：2012-10-15
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G21K1/06
Abstract: 本发明公开了一种使用波带片将柱面波线光源聚焦为点光斑的方法，其包括下列步骤：根据柱面波线光源的波长确定所使用波带片的焦距f：f=r12/λ，其中r1为波带片第一环的半径，λ为柱面波线光源的波长；根据下述模型确定波带片的旋转角度θ：sin2θ＝f/(p+f)，其中p为柱面波线光源的源距；将波带片放置在柱面波线光源的光路上，并绕着一旋转轴心按照上述旋转角度进行旋转，所述旋转轴心通过波带片的中心，并与柱面波线光源的光轴平行。采用该方法可以将柱面波线光源聚焦为点光斑，并保证具有一定的能量可调性。
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公开(公告)号：CN106248703A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610911264.1
申请日：2016-10-19
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N23/06
CPC classification number: G01N23/085
Abstract: 本发明涉及一种同步辐射原位测试装置，顶端法兰和侧壁法兰分别通过不锈钢管连接于腔体管，加热组件通过顶端法兰支撑和固定，而抽换气法兰通过侧壁法兰支撑和固定，两端板设置有第一射线窗口并直接固定于腔体管的两端，视窗法兰通过端板支撑和固定；顶盖法兰与顶端法兰固定连接，顶盖法兰的顶面设置有航插，顶盖法兰的底面设置有加热法兰，加热法兰通过吊杆将样品台悬挂固定于顶盖法兰下方，样品台上设置有热电偶，热电偶通过加热管与航插连接，样品台上固定有用于安装样品的样品座，样品座具有第二射线窗口，样品的中心、第一射线窗口的中心和第二射线窗口的中心对齐。本发明的同步辐射原位测试装置将样品保持在隔绝空气和水的环境下进行测量。
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公开(公告)号：CN102589964B
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201210034327.1
申请日：2012-02-15
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N1/44
Abstract: 本发明提供一种加热装置，用于加热高温熔盐同步辐射原位测试的样品圆片，该加热装置包括：带有样品圆槽的样品池，所述样品圆片容纳于样品圆槽中；在样品池两侧平行于样品池依次设置的加热板和侧隔热板，所述加热板和侧隔热板上分别设有与所述样品圆槽同轴的加热板通光孔和侧隔热板通光孔；覆盖于所述样品池及其两侧的加热板上方的上隔热板，以及平铺于所述样品池及其两侧的加热板下方的下隔热板；用于支撑所述样品池、加热板、侧隔热板、上隔热板和下隔热板的支承座。本发明的加热装置，在样品池两侧平行于样品池设置带有通光孔的加热板，加热均匀高效，降低能耗，通过围绕样品池设置的隔热板获得良好的隔热保温效果，结构紧凑，体积小巧。
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公开(公告)号：CN102590253B
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201210014460.0
申请日：2012-01-17
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明公开了一种高温同步辐射原位研究装置，其包括：一熔盐试管；一真空炉，其内为一腔体，真空炉的炉壁上开设有一入射窗口、一透射窗口和一荧光窗口，其中入射窗口与透射窗口同轴共线设置，荧光窗口的轴线与入射窗口和/或透射窗口的轴线垂直；一加热装置，其设于真空炉的腔体内，用于对设于其内的熔盐试管进行加热，加热装置上设有与入射窗口、透射窗口和荧光窗口分别对应的一入射孔、一透射孔和一荧光孔；一对应入射窗口设于真空炉的外部的第一电离室；一对应透射窗口设于真空炉的外部第二电离室或一CCD探测器；一对应荧光窗口设于真空炉的外部荧光探测器。
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公开(公告)号：CN109839397B
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN201910062566.X
申请日：2019-01-23
Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所
IPC: G01N23/223 , G01B15/00
Abstract: 本发明涉及一种同步辐射共聚焦荧光实验装置中共聚焦微元尺寸测量方法，其包括：将标样的铜系带表面与聚焦X射线的光路方向垂直；得到荧光信号强度与第一Y方向电机的位置的第一关系曲线；将标样的铜系带表面与聚焦X射线的光路方向平行；得到荧光信号强度与第一X方向电机的位置的第二关系曲线；将标样的铜系带表面朝上，使荧光信号以掠入射方式进入毛细管；得到荧光信号强度与第一Z方向电机的位置的第三关系曲线；将第一至第三关系曲线的半高宽作为共聚焦微元的尺寸。通过本发明可以直接对共聚焦微元进行测量，并且有效提高了微小共聚焦微元的测量精度。
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