X射线诱导光电子相衬成像装置

    公开(公告)号:CN1210562C

    公开(公告)日:2005-07-13

    申请号:CN03151083.3

    申请日:2003-09-19

    CPC classification number: A61B6/484

    Abstract: 一种X射线诱导光电子相衬成像装置,它包含硬X射线源,其特征在于沿x射线前进方向依次是待测样品、光电子转换器、加速阳极、电磁放大透镜组、CCD,该CCD的输出连计算机,光电子转换器位于待测样品之后,与待测样品的距离Z2为:Z2=0.49Z1/(λU2Z1-0.49)式中:λ-X射线波长,U-物体空间频率,Z1-待测样品和硬X射线源的距离。所述的光电子转换器、加速阳极、电磁放大透镜组和CCD都装在一真空系统之内。本发明既具有硬X射线高穿透性能,又兼备了光电子能有效方大的特性,可实时地、快速地观察自然活体状态下生物体、各种材料的位相分布。

    X射线诱导光电子相衬成像装置

    公开(公告)号:CN1527048A

    公开(公告)日:2004-09-08

    申请号:CN03151083.3

    申请日:2003-09-19

    CPC classification number: A61B6/484

    Abstract: 一种X射线诱导光电子相衬成像装置,它包含X射线源,其特征在于沿X射线前进方向依次是待测样品、光电子转换器、加速阳极、电磁放大透镜组、CCD,该CCD的输出连计算机,光电子转换器位于待测样品之后,与待测样品的距离Z2为:Z2=0.49Z1/(λU2Z1-0.49)式中:λ-X射线波长,U-物体空间频率,Z1-待测样品和X射线源的距离。所述的光电子转换器、加速阳极、电磁放大透镜组和CCD都装在一真空系统之内。本发明既具有硬X射线高穿透性能,又兼备了光电子能有效放大的特性,可实时地、快速地观察自然活体状态下生物体、各种材料的位相分布。

    中子相衬层析成像装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1434291A

    公开(公告)日:2003-08-06

    申请号:CN03115585.5

    申请日:2003-02-28

    Abstract: 一种中子相衬层析成像装置,包括转动平台、闪烁体、铝镜、CCD相机、计算机和暗箱,所说的闪烁体、铝镜和CCD相机放在暗箱中,中子束入射到放置在转动平台上的样品上,中子被样品产生的衍射中子垂直入射,被闪烁体接收,转化为含有样品信息的可见光,被铝镜反射进入到CCD相机上,数字化后转入到计算机,其特征是:①在转动平台之前还设有互相垂直放置的、具有一定曲率的单晶铝和单晶铝构成的单色聚焦器;②所述转动平台的步进马达受到计算机的指令而转动,驱动转动平台旋转或上、下运动。本中子相衬层析成像装置兼备了相衬和层析的各自优点,能高分辨率地重构待测样品的三维空间位相分布。

    极弱微磁场的测量方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1395113A

    公开(公告)日:2003-02-05

    申请号:CN02111733.0

    申请日:2002-05-17

    Abstract: 一种极弱微磁场的测量方法,特别适用于磁通量小于10-15韦伯的弱磁场的测量。待测样品是由磁性材料构成,厚度小于或等于500纳米。首先将待测样品置于电子显微镜中拍摄待测样品的电子全息图。再将在电子显微镜中拍好的带有待测样品电子全息图的电子干板置放在光学马赫—陈特尔干涉仪上进行位相差放大,获得干涉图。读取干涉图中的干涉条纹数就可以获得待测样品的磁通量。与在先技术相比,本发明测量方法的测量灵敏度较高,能够测量漏磁场,极弱微磁场,以及进行阿哈拉诺夫—玻姆效应的验证。

    非相干X射线衍射成像装置

    公开(公告)号:CN102353689A

    公开(公告)日:2012-02-15

    申请号:CN201110148476.6

    申请日:2011-06-03

    Abstract: 一种非相干X射线衍射成像装置,包括置于防辐射外壳内的X射线源、电子光闸、校准器、待测物体、底盘、电控平移台、X射线面探测器和置于防辐射外壳外的计算机。校准器由入射窗和出射窗构成。X射线源、电子光闸、校准器、待测物体、底盘、X射线面探测器同轴;校准器出射窗和待测物体固定于同一底盘上,底盘固定于电控平移台上,在计算机的控制下,电控平移台带动校准器出射窗和待测物体在垂直于光路的方向横向移动;计算机与电子光闸、电控平移台、X射线面探测器以电缆相连,具有对关联成像序列进行关联运算的程序。本发明利用非相干X射线,可以在菲涅尔区实现目前只有采用相干X射线,在夫琅禾费区才能完成的X射线傅立叶变换衍射成像。

    X射线双频全息干涉仪
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1216271C

    公开(公告)日:2005-08-24

    申请号:CN200310108483.9

    申请日:2003-11-07

    Abstract: 一种X射线双频全息干涉仪,其特征在于它包括X射线源、微波带片、小孔光阑、探测器和计算机,所说的微波带片是一块直径为1mm,波带数大于500的能对X射线进行聚焦的微光学元件;所说的小孔光阑,置于由微波带片产生一级X射线衍射的焦点处;所说的探测器是一个能接受软X射线的电荷耦合器;所说的计算机用来实施重构X射线全息图。本发明的灵敏度可以调整,最高可为同波长普通干涉仪的两倍。

    高倍全息位相差放大装置

    公开(公告)号:CN1186590C

    公开(公告)日:2005-01-26

    申请号:CN03115177.9

    申请日:2003-01-27

    Abstract: 一种高倍全息位相差放大装置,由波前记录装置和重构装置两部分构成,波前记录装置由激光光源、第一望远镜、分束器、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、待测样品和记录介质组成,重构装置包括氦-氖激光光源、第二望远镜、第一半透半反镜、第二半透半反镜、第一全反镜、第二全反镜、底片架、透镜、光阑和接收器,先利用波前记录装置拍摄好的含有物体位相信息的全息图,在暗房中处理、吹干以后,放在重构装置的底片架上进行光学重构,经一次或多次重构可将位相差放大到λ/100,也就是说可将波面的测量精度提高到纳米量级。

    简易X射线干涉仪
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1563926A

    公开(公告)日:2005-01-12

    申请号:CN200410017870.6

    申请日:2004-04-22

    Abstract: 一种简易X射线干涉仪,其特点是它由X射线源、两块平面玻璃板、样品和探测器组成:在X射线源的X射线前进的方向上,略入射地放置两块平面玻璃板,该两平面玻璃板的夹角为1″,这两块平面玻璃板分别反射X射线,其中一束反射的X射线经样品后,再与另一束反射的X射线相交并相互干涉后,用探测器进行检测。本发明具有结构简单、成本低、使用可靠的优点。

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