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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114964035B
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202210382794.7
申请日：2022-04-08
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种基于空变球模型自适应单目偏折对待测工件面形的重构方法，以解决单目偏折术中因未知待测工件面形而产生的高度‑斜率不确定问题。方法步骤为：首先，在待测工件表面任意取一点作为标志点，并使用第三方工具测得该标志点的高度。然后，根据单目偏折术得到该标志点对应的入射光线和反射光线，结合反射定律，得到该标志点的法向量。接着，利用反向追迹方法，迭代优化球的半径和球心坐标，得到最优的球模型拟合初始面形。为提高复杂待测工件的拟合精度，将工件表面划分为多个区域，分别使用球模型拟合，最后得到待测工件全局最优空变球模型。
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公开(公告)号：CN115371585A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210960596.4
申请日：2022-08-11
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种用于偏折测量的超景深镜头及其偏折测量系统与测量方法，该检测系统由液晶显示屏、待测元件、超景深镜头及CCD相机组成。液晶显示屏显示编码条纹，超景深镜头及CCD相机接收由待测元件反射的带有其面形信息的变形条纹，获得面形梯度信息，进而得到待测元件三维形貌结构。相比于传统CCD相机镜头，本发明中的超景深镜头可扩大成像景深，进而扩大检测范围。同时，超景深镜头相比于传统镜头，通光孔径大，曝光时间短，可提高成像效率。本发明解决了目前偏折测量技术中，尤其是针对大口径复杂光学元件的检测，存在的成像景深不足，检测范围小，效率低的难题，对偏折术测量的适用范围扩大和效率提升有重要意义。
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公开(公告)号：CN114964035A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210382794.7
申请日：2022-04-08
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种基于空变球模型自适应单目偏折对待测工件面形的重构方法，以解决单目偏折术中因未知待测工件面形而产生的高度‑斜率不确定问题。方法步骤为：首先，在待测工件表面任意取一点作为标志点，并使用第三方工具测得该标志点的高度。然后，根据单目偏折术得到该标志点对应的入射光线和反射光线，结合反射定律，得到该标志点的法向量。接着，利用反向追迹方法，迭代优化球的半径和球心坐标，得到最优的球模型拟合初始面形。为提高复杂待测工件的拟合精度，将工件表面划分为多个区域，分别使用球模型拟合，最后得到待测工件全局最优空变球模型。
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公开(公告)号：CN116381857A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310446537.X
申请日：2023-04-24
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种无色散耦合模斑转换器，包括：宽输入直波导、多根周期性S形余弦弯曲波导、多根窄输出直波导，所述S形余弦弯曲波导结构的两端是用来耦合宽输入直波导和窄输出直波导，通过恰当的调节所述S形余弦弯曲波导之间的耦合系数实现光波导之间的无色散耦合进而使宽输入光波信号能更聚集的从中心窄波导输出。与传统单根线性锥形模斑转换器相比，本发明提供的模斑转换器可以在较短的渐变长度范围内实现高效率耦合，大大的提高了光子芯片的集成度。
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公开(公告)号：CN116255932A
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202310446535.0
申请日：2023-04-24
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01B11/25
Abstract: 一种基于波前编码的超景深条纹投影测量装置，包括投影模块、相机和计算机，所述投影模块设有三次位相板，用于加载二值编码并调制获得正弦条纹，投射至待测物体上；所述相机设有三次位相板，用于采集被投射在待测物体上正弦条纹，经调制后发生变形；所述计算机，分别与所述投影模块和相机相连，用于对调制前后的正弦条纹进行标定对比，利用相位重建算法恢复出待测物三维形貌数据。本发明采取二值编码投影出正弦条纹的方式来实现快速测量，同时在投影仪镜头和相机镜头中分别添加三次相位板实现超景深。本发明克服了传统离焦条纹投影的测量景深小的缺陷，实现了快速超景深测量。
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