一种含有三元环的全硅Beta分子筛的改性方法

    公开(公告)号:CN113371729B

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN202110775780.7

    申请日:2021-07-09

    Abstract: 本发明提供了一种含有三元环和Lewis酸的全硅Beta分子筛的改性方法,属于石油化工领域。首先以Si/Al比高于10的Beta分子筛为原粉,通过硝酸溶液对其进行持续加班加了后完全脱铝处理,之后利用去离子水使脱铝厚度Beta分子筛酸碱平衡得到全硅的Beta分子筛,之后干燥,干燥后再给入马弗炉焙烧最后获得含有三元环和Lewis酸的全硅Beta分子筛。本方法避免了原位合成中含氟矿化剂的使用,绿色环保;得到的全硅Si‑Beta分子筛含有三元环结构和有效的Lewis酸位点,可以用于烯烃的异构反应,整个步骤简单,制备快捷,绿色环保。

    一种流化床干法分选设备及方法

    公开(公告)号:CN112044587B

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202010863863.7

    申请日:2020-08-25

    Abstract: 本发明公开了一种流化床干法分选设备及方法,适用于细粒煤流态化干法分选使用。包括流化床和气室,流化床和气室之间设有布风板,布风板的一侧设有电极接线端Ⅰ,流化床顶部金属电极板,金属电极板上设有电极接线端Ⅰ,流化床侧壁顶部设有引风除尘设备,流化床侧壁上方设有给料口,侧壁下方两侧分别设有两个出料口,两个出料口的水平高度不同,出料口附近沿水平方向设有均匀分布的若干逆向导流板,气室侧壁设有管道,管道与供风系统连通,布风板通过电极接线端Ⅰ与高压静电源的正电源连接,金属电极板通过电极接线端Ⅱ与高压静电源的负电源连接。其结构简单,运行成本低,使用方便,分选效率高,具有广泛的实用性。

    一种Ti-Beta分子筛的制备方法

    公开(公告)号:CN114229863B

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202111439797.1

    申请日:2021-11-30

    Abstract: 本发明提供一种Ti‑Beta分子筛的制备方法,适用于无机化学领域中的引用。首先将Beta分子筛进行完全脱铝处理得到全硅Si‑Beta分子筛,然后对Si‑Beta分子筛进行脱水脱杂气预处理,之后将预处理后的Si‑Beta分子筛与含Ti前驱体在惰气环境中均匀混合;将混合粉末转移至带盖平底坩埚中并尽量薄地均匀铺洒在平底坩埚内,将盛有混合粉末的带盖坩埚转移至真空环境中加热,使坩埚内前驱体中的Ti金属均匀浸渍负载到Si‑Beta分子筛的骨架中,得到Ti‑Beta分子筛;最后将坩埚内的Ti‑Beta分子筛进行焙烧处理,脱除前驱体中的有机组分,使金属Ti稳定存在于Beta分子筛的骨架中,获得Ti‑Beta分子筛。本方法避免使用有毒矿化剂,实施过程简单高效,绿色环保,且产品骨架Ti负载量高,具有广泛的实用性。

    一种流化床干法分选设备及方法

    公开(公告)号:CN112044587A

    公开(公告)日:2020-12-08

    申请号:CN202010863863.7

    申请日:2020-08-25

    Abstract: 本发明公开了一种新型流化床干法分选设备及方法,适用于细粒煤流态化干法分选使用。包括流化床和气室,流化床和气室之间设有布风板,布风板的一侧设有电极接线端Ⅰ,流化床顶部金属电极板,金属电极板上设有电极接线端Ⅰ,流化床侧壁顶部设有引风除尘设备,流化床侧壁上方设有给料口,侧壁下方两侧分别设有两个出料口,两个出料口的水平高度不同,出料口附近沿水平方向设有均匀分布的若干逆向导流板,气室侧壁设有管道,管道与供风系统连通,布风板通过电极接线端Ⅰ与高压静电源的正电源连接,金属电极板通过电极接线端Ⅱ与高压静电源的负电源连接。其结构简单,运行成本低,使用方便,分选效率高,具有广泛的实用性。

    一种基于反射槽波的回采工作面隐蔽断层性质的探测方法

    公开(公告)号:CN109765606B

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN201910078650.0

    申请日:2019-01-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于反射槽波的回采工作面隐蔽断层性质的探测方法,采用在两侧巷道内分别设置多个检波器和多个激发钻孔相结合的方式,通过依次间隔激发每侧巷道内的各个钻孔作为多次地震震源,多个检波器分别接收多次反射槽波,地震主机根据多次接收的反射槽波信号及各个激发钻孔与检波器之间的位置关系,得出内部断层面两盘的位置关系,三维建模及网格化剖分处理后最终得出断层面两盘在水平和垂直方向上的位移量,并显示在三维模型上;本发明无需额外增设探巷,通过检测反射槽波即能准确的对断层两盘之间相对位移进行测量,从而对工作面内部隐伏断层进行透明化显示。

    基于反射型太赫兹时域光谱技术的热障涂层多层厚度检测方法

    公开(公告)号:CN108519059B

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201810361948.8

    申请日:2018-04-20

    Abstract: 本发明公开了一种基于反射型太赫兹时域光谱技术的热障涂层多层厚度检测方法,包括以下步骤:首先应用太赫兹时域光谱检测装置分别测量太赫兹波透过空气和被检测的热障涂层反射的信号,作为时域的参考信号和样品信号,然后对参考信号做傅里叶变换,将其作为太赫兹入射频域谱信号;建立太赫兹多层反射理论模型;不断改变热障涂层中各层的厚度值,带入多层反射理论模型,得到样品的理论频域谱信号后对其进行反傅里叶变换,从而得到样品信号时域的理论值,并与实验测得的样品信号做比较,采用优化算法进行寻优,直到理论计算结果与实验测量结果一致,各层厚度值即为被检测厚度的结果;本发明可为热障涂层厚度的准确、无损、快速检测提供一种新的方法。

Patent Agency Ranking