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公开(公告)号:CN115290019B
公开(公告)日:2025-03-04
申请号:CN202210853637.X
申请日:2022-07-11
Applicant: 中国矿业大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种薄壁拱形元件三坐标测量工装及测定方法,该工装包括工装支架、准备过程支架、调整垫片、定标刀架套组以及测量过程支架,其测量方法主要分为测量准备过程、定标过程以及测量过程;本工装通过测量工装支架使薄壁拱形元件在定标过程和测量过程中均有恒温的冰与其内壁紧密配合,从而可以实现薄壁拱形元件在测量过程中受压不产生形变的效果,进而可以通过三坐标测量仪进行数据的准确采集。
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公开(公告)号:CN115290019A
公开(公告)日:2022-11-04
申请号:CN202210853637.X
申请日:2022-07-11
Applicant: 中国矿业大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种薄壁拱形元件三坐标测量工装及测定方法,该工装包括工装支架、准备过程支架、调整垫片、定标刀架套组以及测量过程支架,其测量方法主要分为测量准备过程、定标过程以及测量过程;本工装通过测量工装支架使薄壁拱形元件在定标过程和测量过程中均有恒温的冰与其内壁紧密配合,从而可以实现薄壁拱形元件在测量过程中受压不产生形变的效果,进而可以通过三坐标测量仪进行数据的准确采集。
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