地层产状计算方法及装置

    公开(公告)号:CN118731013A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410636715.X

    申请日:2024-05-22

    Abstract: 本发明公开了一种地层产状计算方法及装置,可用于石油与天然气勘探开发领域,该方法包括:获取岩层样品的地层走向、地层倾向和地层倾角;确定对岩层样品磨片得到的水平薄片上标记的地层走向,确定对岩层样品磨片得到的垂向薄片上标记的地层倾角;对水平薄片和垂向薄片进行图像分析,分别确定水平薄片和垂向薄片的层界面,对水平薄片和垂向薄片的层界面分别进行标记,得到标记地层产状;根据水平薄片和垂向薄片上的标记,分别将地层走向、野外倾角与标记地层产状进行比对,根据对比结果和地层倾向计算真实地层走向、真实地层倾向和真实地层倾角。本发明可以提高地层产状观测结果的精确性,减少地层产状观测的工作量。

    地层厚度的确定方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106842314B

    公开(公告)日:2019-09-03

    申请号:CN201611130807.2

    申请日:2016-12-09

    Abstract: 本发明提供了一种地层厚度的确定方法,包括以下步骤:将原始数据点进行平面拟合得到地层拟合平面。通过插值拟合将地层拟合平面进行网格化得到地层网格拟合平面。通过原始数据点与地层网格拟合平面确定原始数据点对应的第一插值的绝对差值,对于绝对差值处于置信区间以外的原始数据点进行处理并重新进行插值计算。通过双三次拟合差分方法,确定地层网格拟合平面上的并位于网格线交点处的点的切面的法向量;根据法向量获得地层的顶界面与底界面之间的时间域值。根据时间域值与弹性波在地层内传播的速度确定地层的真实厚度。采用该方法,能够直接运用地震资料精准的确定出地层的真实厚度,有助于对地层沉积进行更精确地定性并且定量分析。

    地质解译线修正方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN119625232A

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202311175791.7

    申请日:2023-09-12

    Abstract: 本发明公开了一种地质解译线修正方法、装置及存储介质。其中,该方法包括:获取目标地质图像的初始解译线和不规则三角网,其中,初始解译线用于表示三维地质界线的变化,不规则三角网表示目标地质图像的三维连续表面;确定初始解译线中存在预定顺序的多个解译点,并在不规则三角网中,搜索多个解译点分别对应的邻近网格点,得到多个解译点分别对应搜索结果;基于多个解译点分别对应搜索结果,确定多个解译点分别对应的目标网格点;按照不规则三角网中的网格三角形索引顺序,对多个解译点分别对应的目标网格点进行处理,得到目标地质图像的目标解译线。本发明解决了相关技术中存在的解译线准确性不理想的技术问题。

    地层厚度的确定方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106842314A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201611130807.2

    申请日:2016-12-09

    Abstract: 本发明提供了一种地层厚度的确定方法,包括以下步骤:将原始数据点进行平面拟合得到地层拟合平面。通过插值拟合将地层拟合平面进行网格化得到地层网格拟合平面。通过原始数据点与地层网格拟合平面确定原始数据点对应的第一插值的绝对差值,对于绝对差值处于置信区间以外的原始数据点进行处理并重新进行插值计算。通过双三次拟合差分方法,确定地层网格拟合平面上的并位于网格线交点处的点的切面的法向量;根据法向量获得地层的顶界面与底界面之间的时间域值。根据时间域值与弹性波在地层内传播的速度确定地层的真实厚度。采用该方法,能够直接运用地震资料精准的确定出地层的真实厚度,有助于对地层沉积进行更精确地定性并且定量分析。

    地层产状计算方法及装置

    公开(公告)号:CN118731013B

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202410636715.X

    申请日:2024-05-22

    Abstract: 本发明公开了一种地层产状计算方法及装置,可用于石油与天然气勘探开发领域,该方法包括:获取岩层样品的地层走向、地层倾向和地层倾角;确定对岩层样品磨片得到的水平薄片上标记的地层走向,确定对岩层样品磨片得到的垂向薄片上标记的地层倾角;对水平薄片和垂向薄片进行图像分析,分别确定水平薄片和垂向薄片的层界面,对水平薄片和垂向薄片的层界面分别进行标记,得到标记地层产状;根据水平薄片和垂向薄片上的标记,分别将地层走向、野外倾角与标记地层产状进行比对,根据对比结果和地层倾向计算真实地层走向、真实地层倾向和真实地层倾角。本发明可以提高地层产状观测结果的精确性,减少地层产状观测的工作量。

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