一种光纤型短波红外光陷阱探测器及探测方法

    公开(公告)号:CN113418600A

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN202110683676.5

    申请日:2021-06-21

    Abstract: 本发明提供了一种光纤型短波红外光陷阱探测器,光纤型短波红外光陷阱探测器,其特征在于,包括:D1、D2、D3三个锗光电二极管、一个镀金凹球面反射镜M、光纤法兰盘、电路板、BNC连接器以及高吸收腔体,其中,D1、D2、D3三个锗光电二极管和凹球面反射镜通过夹具固定在高吸收腔体中,光纤输出的光纤法兰盘进入到高吸收腔体中,将会在D1、D2、D3三个锗光电二极管的光敏面上发生吸收/反射作用。采用本发明技术方案,可有效减小短波红外光纤功率量值传递的测量不确定度。

    一种低温恒温器
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110455611A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201910761940.5

    申请日:2019-08-19

    Abstract: 发明公开了一种低温恒温器,具体涉及低温恒温器技术领域。该低温恒温器包括制冷机,制冷机的外部设有支架,支架的上部连有真空罩,真空罩内设有与制冷机相连的冷头、热沉和样品台,冷头、热沉和样品台自下而上依次设置,冷头连接一级冷屏,热沉连接二级冷屏,样品台的正上方安装样品低温屏,一级冷屏、二级冷屏和样品低温屏的中心位于同一中心轴线上,二级冷屏设置于样品低温屏的上方,一级冷屏设置于二级冷屏的上方,样品低温屏固定于样品台上,二级冷屏通过第二绝热支撑杆固定于一级冷屏上,一级冷屏通过第一绝热支撑架固定于真空支架上。

    一种低温辐射计用测试集成装置及测试方法

    公开(公告)号:CN110440911A

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201910697814.8

    申请日:2019-07-31

    Abstract: 本发明公开了一种低温辐射计用测试集成装置及测试方法,该装置是集布儒斯特窗口透过率、光束对准装置安装调试与杂散光测试功能于一体的紧凑型集成装置,该装置结构简单、测试精度高。与现有利用两个探测器进行布儒斯特窗口透过率测试装置相比,本发明所设计方案利用电控平移台和同一探测器进行布儒斯特窗口透过率测试,有利于消除不同探测器之间的响应差异,提高探测精度。本发明提出利用探测离轴抛物面镜透过率的方法间接检测杂散光光功率,有利于消除四象限探测器外围杂散光以及探测器对极微弱光功率测试精度差造成对杂散光测试准确性差的问题。

    一种双折射色散实时补偿偏振分束干涉仪

    公开(公告)号:CN106092078B

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201610351350.1

    申请日:2016-05-18

    Abstract: 本发明提出了一种双折射色散实时补偿偏振分束干涉仪,包括:高偏振度宽光谱光源、偏振分束白光干涉仪以及信号检测和处理系统;其中,所述偏振分束白光干涉仪包括偏振分束器、色散补偿模块、光纤延迟器以及保偏合束器;通过采用偏振分束器来实现保偏光纤慢快轴中偏振光的分离,其中快轴偏振光进入光纤延迟器进行光程扫描,慢轴偏振光进入色散补偿模块进行双折射色散的实时补偿;色散补偿模块对慢轴能量进行色散补偿,消除光纤环每个耦合点的快轴能量与慢轴能量之间的色散差,实现对光纤环每个耦合点耦合强度的准确测量。

    一种红外小光点光束特性测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN105547171B

    公开(公告)日:2018-08-14

    申请号:CN201510979500.9

    申请日:2015-12-24

    Abstract: 本发明提出了一种红外小光点光束特性测量装置,将红外成像器件固定在精密三维电控位移台上,通过三维位移台将红外成像器件光敏面调整到小光点的焦面上,控制位移台带动红外成像器件相对小光点进行扫描,记录正好横穿小光点某像元的输出电压,并绘出此像元信号输出和扫描位移对应关系曲线,由曲线求出红外小光点的光斑直径;进行另一垂直方向上的扫描,求得垂直方向上的光斑直径;根据两方向上的扫描曲线,绘出小光点光斑质量图形。本发明采用红外成像器件扫描法实现对红外小光点光斑直径的准确测量;对红外小光点扫描曲线的拟合模型采用二次和四次方函数混合拟合模型,克服了普通拟合方法在曲线顶部或底部存在较大偏差的缺陷,提高了拟合精度。

    一种测量太赫兹波长的装置及方法

    公开(公告)号:CN107063476A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201710391081.6

    申请日:2017-05-27

    CPC classification number: G01J9/00

    Abstract: 本发明涉及一种测量太赫兹波长的装置及方法。其方法是太赫兹光源发出太赫兹光经过可调光阑的阑孔,变成一束太赫兹光,再经过硅棱镜,由于不同波长的太赫兹光在硅棱镜中的折射率不同,因此,不同波长的太赫兹光经过硅棱镜后从不同的位置出射,太赫兹探测器在一维位移台上,通过计算机控制,对不同位置出射的太赫兹光进行探测,记录探测到太赫兹光的位置,就可以计算出太赫兹波的波长,如果是一个波长段内连续的太赫兹光,通过两个极限位置的探测,可以得到连续波长的太赫兹波的波长段。它可以扫描一个波段的太赫兹波;制作方便,精确度高;测量速度快。

    一种双折射色散实时补偿偏振分束干涉仪

    公开(公告)号:CN106092078A

    公开(公告)日:2016-11-09

    申请号:CN201610351350.1

    申请日:2016-05-18

    CPC classification number: G01C19/721

    Abstract: 本发明提出了一种双折射色散实时补偿偏振分束干涉仪,包括:高偏振度宽光谱光源、偏振分束白光干涉仪以及信号检测和处理系统;其中,所述偏振分束白光干涉仪包括偏振分束器、色散补偿模块、光纤延迟器以及保偏合束器;通过采用偏振分束器来实现保偏光纤慢快轴中偏振光的分离,其中快轴偏振光进入光纤延迟器进行光程扫描,慢轴偏振光进入色散补偿模块进行双折射色散的实时补偿;色散补偿模块对慢轴能量进行色散补偿,消除光纤环每个耦合点的快轴能量与慢轴能量之间的色散差,实现对光纤环每个耦合点耦合强度的准确测量。

    一种高性能的偏振度测试仪校准装置及校准方法

    公开(公告)号:CN103644971B

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201310684376.4

    申请日:2013-12-16

    Abstract: 本发明提供一种高性能的偏振度测试仪校准装置及校准方法,由窄线宽激光器、三个偏振控制器、色散模块、偏振分束器、偏振合束器、两个光纤耦合器、三个探测器、数据处理显示模块组成;所述窄线宽激光器依次连接第一偏振控制器、偏振分束器一端,偏振分束器的另一端分为两路,一路依次连接第二偏振控制器、色散模块、第一光纤耦合器一端,另一路依次连接第三偏振控制器、第二光纤耦合器一端。采用上述方案,通过调节偏振控制器就可以实现校准装置输出光偏振度的连续可调,避免了衰减器法中重复使用光开关引入的误差。

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