一种薄膜体声波滤波器晶圆级封装方法及其结构

    公开(公告)号:CN110729979B

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN201910937624.9

    申请日:2019-09-30

    Abstract: 本发明属于声波滤波器技术领域,涉及一种薄膜体声波滤波器晶圆级封装方法及其结构;封装方法包括在同一片硅晶圆上加工形成多个芯片;将陶瓷基板表面制作多个与芯片形状匹配的金属图形,针对外部引线制作出相应的导通孔;将芯片和金属图形正对后进行金属键合,并形成键合层金属,从导通孔连接至晶圆;在陶瓷基板背向芯片的一面镀制金属种子层再进行电镀,使导通孔内填充满金属,并去除以外的金属种子层;再制作外电极和外部电路结构,在外电极表面制作外部焊球。本发明通过金属键合,使器件内部与外部形成了隔绝的两个部分,从而保护裸芯片表面不被污染以及密封的效果能满足气密(56)对比文件US 2010301703 A1,2010.12.02P.R. Morrow 等.Three-dimensionalwafer stacking via Cu-Cu bondingintegrated with 65-nm strained-Si/low-kCMOS technology《.IEEE Electron DeviceLetters》.2006,第27卷(第5期),335-337.Steen, S.E.a 等.Overlay as the key todrive wafer scale 3D integration.《Microelectronic Engineering》.2007,第84卷(第5-8期),1412-1415.陈永星 等.X波段铁氧体微带环行器阵列封装设计与仿真《.磁性材料及器件》.2019,第50卷(第3期),25-28+69.王祥邦 等.基于晶圆级封装技术的声表面波滤波器《.电子与封装》.2019,第19卷(第7期),1-3+32.肖立 等.晶圆级封装对声表滤波器性能的影响《.压电与声光》.2016,第38卷(第4期),628-632.

    C波段超低损耗自偏置六角旋磁铁氧体材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN119176714A

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202411368264.2

    申请日:2024-09-29

    Abstract: 一种C波段超低损耗自偏置六角旋磁铁氧体材料,属于铁氧体材料制备技术领域。所述铁氧体材料包括重量比为0.1~10的BiCaZrVIn‑YIG旋磁铁氧体材料和LaScBiCu‑BaM六角旋磁铁氧体材料;掺杂剂占铁氧体材料的重量百分比,以氧化物计算:0.3~0.7wt%La2O3、0.4~0.8wt%SiO2和0.5~0.9wt%SrTiO3。本发明在低损耗BiCaZrVIn‑YIG旋磁铁氧体颗粒表面生长兼具高Mr/Ms和Hc特性的LaScBiCu‑BaM六角旋磁铁氧体,研制兼具高而可调各向异性场Ha、高矫顽力Hc和剩磁比Mr/Ms、超低铁磁共振线宽△H和介电损耗tanδε特征的六角旋磁铁氧体材料,满足C波段微型集成器件低损耗宽带宽的工程化需求问题。

    Ka波段高功率旋磁锂锌铁氧体及其制备方法

    公开(公告)号:CN118184330A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410317164.0

    申请日:2024-03-20

    Abstract: 一种Ka波段高功率旋磁锂锌铁氧体及其制备方法,属于微波铁氧体材料制备技术领域。包括主料和添加剂,主料为Li0.347+0.5xZn0.3Ni0.006Mn0.056TixFe2.291‑1.5xO4,添加剂为:Bi2O3、Sb2O3和Co2O3。本发明采用的主配方体系有利于获得低矫顽力和剩磁温度系数;通过优化烧结工艺,借助两种添加剂的双重作用,使铁氧体样品显微形貌均匀,晶粒大小均匀适中,有利于提高材料的功率承受能力和烧结体密度,大幅降低材料的气孔率并提升材料自旋波线宽,有助于获得低损耗和低矫顽力的Ka波段高功率铁氧体开关和移相器用锂锌铁氧体材料。

    一种(222)取向生长镍锌铁氧体薄膜低温制备方法

    公开(公告)号:CN117966135A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410220438.4

    申请日:2024-02-28

    Abstract: 本发明提供的一种(222)取向生长镍锌铁氧体薄膜低温制备方法,属于薄膜制备技术领域。本发明基于氧化还原反应原理,利用旋转喷涂设备将氧化液和还原液按一定比例通过超声雾化系统均匀地附着于玻璃衬底上,在完成一系列化学反应后形成连续且致密的铁氧体薄膜,通过改变还原液中氯化亚铁的浓度,控制不同晶面的沉积速率,进而调控NiZn铁氧体薄膜的生长取向。经过以上工艺低温沉积制备出的NiZn铁氧体薄膜能够实现与半导体工艺的兼容,同时取向由NiZn铁氧体的(311)取向逐渐沿(222)择优取向生长,显微结构逐渐形成明显的三角形晶粒,从而使得薄膜生长更加均匀,薄膜质量得到显著提高。

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