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发明公开
光纤陀螺可靠度加速试验方法无效

公开(公告)号：CN111678535A

公开(公告)日：2020-09-18

申请号：CN202010342362.4

申请日：2020-04-27

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 蔡自刚 , 刘小西 , 郭勍 , 胡巨刚 , 龙俊 , 陆家乐 , 李劲

IPC: G01C25/00

Abstract: 本发明涉及可靠性试验技术领域，公开了一种光纤陀螺可靠度加速试验方法。通过对所述光纤陀螺进行失效机理分析和可靠性摸底试验来确定所述光纤陀螺的退化性能参数和敏感环境应力，并根据所述退化性能参数和所述敏感环境应力制定相应的试验方案。然后对所述光纤陀螺进行加速退化试验，对所得的试验数据进行分析，建立相应的退化模型，从而推算出其失效时间，最后根据失效时间和寿命分布模型，对经过测试的光纤陀螺进行可靠性指标评估。通过本发明提出的光纤陀螺可靠度加速试验方法对光纤陀螺进行测试，可以有效减少试验的时间成本，同时也有效降低了试验成本；并且，最大限度模拟了光纤陀螺的真实退化环境因素，从而实现产品MTBF的准确评估。

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