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公开(公告)号：CN114993639A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210507392.5
申请日：2022-05-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M13/00
Abstract: 本申请涉及一种口盖锁的工作寿命评估口盖锁的工作寿命评估方法、装置和计算机设备，用于评估系统，评估系统包括待测口盖锁、试验装置和测评系统；所述方法包括：测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，第一驱动指令用于指示试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作，并且，测评系统接收试验装置发送的开闭锁动作对应的开闭锁力，若开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则测评系统根据满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估待测口盖锁的工作寿命。采用本方法能够节约人力。
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公开(公告)号：CN111736121A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010514133.6
申请日：2020-06-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明涉及可靠性试验技术领域，公开了一种地面半固定雷达可靠性试验剖面制定方法。所述地面半固定雷达可靠性试验剖面制定方法包括依据地面半固定雷达的特点，对所述地面半固定雷达的典型任务过程进行剖面分析；其中，所述典型任务过程包括运输阶段、准备阶段、值守阶段和转移阶段；结合综合环境应力和剖面分析结论制定试验剖面方案；其中，综合环境应力包括振动应力、温度应力、湿度应力和电应力。本发明针对地面半固定雷达可靠性水平的验证和提升需求，通过分析所述地面半固定雷达的任务剖面，研究得出相应试验剖面的制定方法，从而确定所述地面半固定雷达的试验剖面方案，以完善所述地面半固定雷达可靠性指标体系的考核方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118395727A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410617289.5
申请日：2024-05-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/04 , G06F113/26 , G06F119/08 , G06F119/14 , G06F119/12
Abstract: 本申请涉及一种橡胶组件贮存寿命评估方法、装置、设备和可读存储介质。所述方法包括：获取施加在橡胶组件上的不同应力水平下的测试性能参数值；基于预设的性能参数退化模型，根据不同应力水平的测试时长和所述测试性能参数值，得到不同应力水平下的测试样件退化速率；根据所述不同应力水平下的测试样件退化速率，确定温度加速模型；根据所述温度加速模型和所述橡胶组件的已贮存时长确定所述橡胶组件的贮存寿命估计值。采用本方法能够提高寿命评估准确性。
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公开(公告)号：CN117608915A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311629285.0
申请日：2023-11-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F11/10
Abstract: 本申请涉及一种数据验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：分别在试验箱施加不同试验应力的场景下，根据预设的数据分割算法将目标数据动态分割为多个传输数据；采用预设数据验证方式依次对各所述传输数据进行验证；在每个所述传输数据验证均通过的情况下，确定所述目标数据验证通过。采用本方法能够提高验证效率。
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公开(公告)号：CN114993639B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202210507392.5
申请日：2022-05-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M13/00
Abstract: 本申请涉及一种口盖锁的工作寿命评估口盖锁的工作寿命评估方法、装置和计算机设备，用于评估系统，评估系统包括待测口盖锁、试验装置和测评系统；所述方法包括：测评系统向试验装置发送第一驱动指令，其中，第一驱动指令用于指示试验装置控制待测口盖锁进行开闭锁动作，并且，测评系统接收试验装置发送的开闭锁动作对应的开闭锁力，若开闭锁力满足预设的开闭锁动作停止条件，则测评系统根据满足开闭锁动作停止条件之前进行的开闭锁动作的总次数，评估待测口盖锁的工作寿命。采用本方法能够节约人力。
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公开(公告)号：CN117871383A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202410076234.8
申请日：2024-01-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本申请涉及一种霉菌试验方法、装置、设备、介质和产品。方法包括：响应于试验控制指令，获取参与本次试验的目标试验样品的配置数据；在预处理箱中，根据目标样品标识以及单个目标样品质量，获取参与本次试验的目标试验样品；对目标试验样品进行预处理操作；将预处理操作后的目标试验样品传输至试验主箱中；在试验主箱中，根据试验配置数据，为目标试验样品进行霉菌试验操作；在霉菌试验操作结束后，将经过霉菌试验的目标试验样品传输至灭菌箱；在灭菌箱中，对经过霉菌试验的目标试验样品进行霉菌识别处理，以获取本次试验结果，并对经过霉菌试验的目标试验样品进行灭菌处理。采用本方法，在减少霉菌试验的误差的同时，显著提高了试验效率。
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公开(公告)号：CN117607595A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311629714.4
申请日：2023-11-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种设备改进方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：分别在试验箱施加不同试验应力的场景下，对所述试验箱中的目标设备进行多项测试，得到各项测试分别对应的评估结果；在任一所述评估结果不符合预设条件的情况下，基于所述评估结果对所述目标设备进行改进处理。采用本方法能够提高设备可靠性。
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