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公开(公告)号：CN115856574A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211525670.6
申请日：2022-12-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种运算放大器通道性能的测试装置及系统。该测试装置包括短接装置和两个以上的测试电路；测试电路包括信号输入端、信号输出端和信号检测端；信号输出端用于输出激励信号至对应的待测试通道，信号检测端用于接收待测试通道的输出信号。当运算放大器的待测试通道为多个时，短接装置能够快速地将多个待测试通道所接入的测试电路进行串接，若最后的输出信号异常，将多个待测试通道进行分组，通过短接装置将每组对应的测试电路串接后，分组进行检测，定位出异常通道所在的小组后还可以继续分组、串接、检测，从而实现对多个通道性能的高效检测，在检测出异常时能够快速缩小异常通道范围，快速定位，测试效率高。
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公开(公告)号：CN117929807B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202311860129.5
申请日：2023-12-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电压调整器测试装置。所述电压调整器测试装置包括：检测组件；测试子板，与待测电压调整器可拆卸连接，以使所述待测电压调整器的多个引脚分别与所述测试子板的多个触点对应连接；测试母板，所述测试母板包括引脚配置组件，所述测试母板与所述测试子板可拆卸连接，以使所述引脚配置组件的第一端分别与所述测试子板的多个触点连接，所述引脚配置组件的第二端与所述检测组件连接，所述引脚配置组件用于将所述检测组件的检测信号通过所述测试子板的多个触点传输至所述待测电压调整器，并将所述待测电压调整器反馈输出的测试信号传输至所述检测组件。本申请的电压调整器测试装置能够降低测试成本和提高检测进度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117929807A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311860129.5
申请日：2023-12-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电压调整器测试装置。所述电压调整器测试装置包括：检测组件；测试子板，与待测电压调整器可拆卸连接，以使所述待测电压调整器的多个引脚分别与所述测试子板的多个触点对应连接；测试母板，所述测试母板包括引脚配置组件，所述测试母板与所述测试子板可拆卸连接，以使所述引脚配置组件的第一端分别与所述测试子板的多个触点连接，所述引脚配置组件的第二端与所述检测组件连接，所述引脚配置组件用于将所述检测组件的检测信号通过所述测试子板的多个触点传输至所述待测电压调整器，并将所述待测电压调整器反馈输出的测试信号传输至所述检测组件。本申请的电压调整器测试装置能够降低测试成本和提高检测进度。
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公开(公告)号：CN117828576A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311846040.3
申请日：2023-12-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种集成验证板卡系统及集成验证方法，该系统包括验证装置、信号中心和控制器；验证装置连接控制器和信号中心；验证装置还用于连接多个待验证器件；控制器还用于连接上位机；各待验证器件包括至少两种器件类型；控制器接收上位机发送的验证指令，基于验证指令确定验证信号，并将验证信号发送给验证装置；验证装置将验证信号施加至各待验证器件中的目标器件；目标器件的器件类型与验证信号的信号类型匹配；信号中心通过验证装置获取目标器件基于验证信号输出的反馈信号，将反馈信号发送至控制器；控制器基于验证信号和反馈信号进行信号分析，确定并向上位机反馈目标器件的验证结果。采用上述系统能够提高验证效率。
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公开(公告)号：CN117827559A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311668058.9
申请日：2023-12-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F11/22 , G06F11/273
Abstract: 本申请涉及一种验证板卡和芯片验证系统，包括验证子板和验证母板，验证子板连接验证母板和被测芯片，验证子板用于接入被测芯片，并与验证母板匹配连接，验证母板用于对接入的被测芯片进行测试，并分析得到测试结果。通过将验证板卡拆分为验证母板和验证子板，设置能够与验证母板匹配连接的验证子板与被测芯片进行连接，将常用的测试功能设置于验证母板，由验证母板通过验证子板对被测芯片进行测试。在试验过程中，只需将对应的验证子板和验证母板连接就可以对被测芯片进行测试，不再需要为不同的被测芯片分别设置完整的验证板卡，减少了验证板卡的设计量，减少验证板卡的研发周期，缩短被测芯片的验证周期，提高验证效率。
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公开(公告)号：CN116125237A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202211516897.4
申请日：2022-11-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种放大器辅助测试装置、放大器测试设备和系统，包括第一电源模块、第二电源模块和电源开关控制模块，第一电源模块用于连接待测放大器第一端，第二电源模块用于连接待测放大器的第二端，第二电源模块还通过电源开关控制模块接地；电源开关控制模块包括导通和断开两种工作模式。其中，当电源开关控制模块断开时，第二电源模块可以和第一电源模块一起对待测放大器进行供电。当电源开关控制模块导通时，第二电源模块与接地端之间短路，此时只有第一电源模块对待测放大器进行供电。综上所述，该放大器辅助测试装置可以通过开关控制模块的导通和断开来实现单双电源的切换，无需将电源线取下重新连接，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN115574981A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211411923.7
申请日：2022-11-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明涉及一种温度传感器的测试电路、集成测试电路和测试系统。所述测试电路包括：电源模块，与所述温度传感器连接，用于向所述温度传感器提供第一供电电压；处理模块，分别与所述电源模块、所述温度传感器连接，用于在所述电源模块提供的第二供电电压的作用下，控制所述电源模块向所述温度传感器提供所述第一供电电压，以及采集所述温度传感器在所述第一供电电压的作用下，处于工作状态的工作参数，所述工作参数至少包括供电工作电压。该测试电路可以获取温度传感器在工作状态下的电参数。
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