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发明公开
一种测试用例扩展方法、介质及电子设备审中-实审

公开(公告)号：CN114218074A

公开(公告)日：2022-03-22

申请号：CN202111414492.5

申请日：2021-11-25

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 尚京威 , 杨晓明 , 王强 , 陈平 , 李颖臻

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明提供一种测试用例扩展方法、介质及电子设备，所述方法包括：获取原始测试主过程，所述原始测试主过程包括多个测试动作，每个所述测试动作均对应一个测试对象，且每个所述测试动作具有一个或多个数值；采用正交组合的方式对所述原始测试主过程进行扩展，以生成多个测试分支。所述测试用例扩展方法能够基于一个原始测试主过程自动进行扩展，得到多个测试分支。

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