公开(公告)号：CN116244918A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202211736108.8

申请日：2022-12-31

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 杨礼浩 ,  胡宁 ,  朱启新 ,  杨洪旗 ,  周军连 ,  吴祥蔚

IPC: G06F30/20 ,  G06F17/18 ,  G06F119/02 ,  G06F119/14 ,  G06F119/08 ,  G06F111/10

Abstract: 本申请涉及一种产品的可靠性评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。包括：获取待评估产品的第一加速寿命集以及参考产品的第二加速寿命集；从多种故障模式中选取任意一种故障模式作为当前故障模式；基于第一加速寿命集和第二加速寿命集，确定失效时间数据；对失效时间数据进行统计分析，获得应力参数估计结果；若失效时间数据均分析完成，则获得使用参数估计结果；从多种故障模式下选取新的故障模式作为当前故障模式，并返回基于第一加速寿命集和第二加速寿命集确定当前故障模式下的每一种应力水平的失效时间数据的步骤；根据各使用参数估计结果，对待评估产品的可靠性进行评估。采用本方法能够提高产品的可靠性评估精度。