公开(公告)号：CN117233126B

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202311205420.9

申请日：2023-09-18

Applicant: 中国测试技术研究院

Inventor： 曹江萍 ,  薛靓 ,  张凤格 ,  蒋美琴 ,  李刚 ,  冉丽萍 ,  罗凡 ,  刘静 ,  孙梦至 ,  赫玉会 ,  何敏 ,  胡丹

IPC: G01N21/45 ,  G01N9/00

Abstract: 本发明公开一种背景纹影测量校准装置及方法，包括背景纹影设备和背景板，还包括实验仓，所述实验仓内对称设置有两独立的密度腔，所述背景纹影设备和背景板分别设置在密度腔的两端；两个密度腔均安装有密度检测仪，至少一个密度腔安装有压力控制阀，所述压力控制阀连接压力控制装置，所述密度检测仪、压力控制阀和压力控制装置连接控制箱，所述方法是利用背景纹影测量校准装置对背景纹影设备进行校准。本发明通过设置两个密度腔，一个用作对照，一个用作增压实验，一方面通过背景纹影设备计算出等效密度，另一方面通过设置密度监测仪对空气场密度进行实测，通过计算值和实测值对比，准确分析背景纹影设备的测量准确性和精度。

公开(公告)号：CN117148317A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202310993706.1

申请日：2023-08-09

Applicant: 中国测试技术研究院

Inventor： 曹江萍 ,  薛靓 ,  蔡东炎 ,  冉丽萍 ,  彭元辉 ,  徐传娣 ,  谢开强 ,  蒋丽 ,  李刚

IPC: G01S7/481 ,  G01S17/08

Abstract: 本发明公开了一种基于激光测距的高精度测量装置，其结构包括连接架、调节机构、激光主机、传导机构，连接架底部安装在支撑台顶部，并且连接架上端安装有调节机构，底座移动的过程中能够将遮尘折板进行弯折缩短或者拉伸延长，能够有效的防止上方的灰尘落入到调节架内部，提高对激光主机进行精准调节控制；通过滑杆在导向块进行平稳的横向水平导向，防止激光主机在移动调节的过程中发生晃动的情况；通过旋转转动环，使得连动杆进行连动，带动上下两个盖板进行反向移动，从而将防尘管内部中端进行开闭，关闭时能够对发生器和接收器前端进行密封，避免灰尘吸附在发生器和接收器前端而影响测量的精准度。

公开(公告)号：CN117392371A

公开(公告)日：2024-01-12

申请号：CN202311298460.2

申请日：2023-10-09

Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所

Inventor： 胡常安 ,  李兴兴 ,  薛靓 ,  杜文波 ,  孔令辉 ,  冉丽萍 ,  温清来

IPC: G06V10/25 ,  G06V20/00 ,  G06Q10/047 ,  G06F17/10 ,  G01D21/02 ,  G01C9/00

Abstract: 本发明公开了一种轨底坡检测方法及检测系统，涉及轨底坡检测技术领域，依据降雨量的不同，在电子地图上将轨道区域分割为若干个监测区域；在监测区域内设置若干个监测点，在获取监测结果后建立轨道安全信息集，生成轨道风险系数，将对应的监测区域标记为风险区域；结合位置信息规划出巡检路径，对检测点处进行检测，以检测结果建立坡面风险系数，依据坡面风险系数的值判断风险区域是否高危；若坡面风险系数及其预测值均超过第二风险阈值，依据坡面风险系数与轨道风险系数，获取坡面安全系数，选择治理方案并输出。对部分被标记的高危区域的安全性进行评价，选择对应的治理方案，在有限的条件下，优先的对其进行治理和改善。

公开(公告)号：CN117233126A

公开(公告)日：2023-12-15

申请号：CN202311205420.9

申请日：2023-09-18

Applicant: 中国测试技术研究院

Inventor： 曹江萍 ,  薛靓 ,  张凤格 ,  蒋美琴 ,  李刚 ,  冉丽萍 ,  罗凡 ,  刘静 ,  孙梦至 ,  赫玉会 ,  何敏 ,  胡丹

IPC: G01N21/45 ,  G01N9/00

Abstract: 本发明公开一种背景纹影测量校准装置及方法，包括背景纹影设备和背景板，还包括实验仓，所述实验仓内对称设置有两独立的密度腔，所述背景纹影设备和背景板分别设置在密度腔的两端；两个密度腔均安装有密度检测仪，至少一个密度腔安装有压力控制阀，所述压力控制阀连接压力控制装置，所述密度检测仪、压力控制阀和压力控制装置连接控制箱，所述方法是利用背景纹影测量校准装置对背景纹影设备进行校准。本发明通过设置两个密度腔，一个用作对照，一个用作增压实验，一方面通过背景纹影设备计算出等效密度，另一方面通过设置密度监测仪对空气场密度进行实测，通过计算值和实测值对比，准确分析背景纹影设备的测量准确性和精度。

公开(公告)号：CN220772140U

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202322698706.7

申请日：2023-10-08

Applicant: 中国测试技术研究院

Inventor： 曹江萍 ,  徐传娣 ,  谢开强 ,  蒋丽 ,  蔡东炎 ,  冉丽萍 ,  李刚

IPC: G01B11/08 ,  G01B11/12

Abstract: 本实用新型属于零件测量技术领域，尤其是涉及一种精密零件激光测量装置。技术包括水平设置的底板，底板顶部竖直固定有伸缩杆，伸缩杆上端水平固定有安装板，所述安装板的下方平行设置有活动板，安装板的右端设置有驱动组件，所述活动板下方水平设置有调节板，调节板顶部竖直固定有连杆，活动板内设置有调整组件，调节板下方竖直设置有两根竖杆，调节板内设置有调节组件，两根竖杆的底部相对固定有第一位移传感器和第二位移传感器，调节板底部固定有第三位移传感器，底板顶部设置有零件，第一位移传感器位于零件内侧，第二位移传感器位于零件外侧。本实用新型中，采用未接触式测量，避免零件的回弹影响测量精度，提高测量数据的准确性。