一种射线探伤中心曝光装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115389536A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202110496396.3

    申请日:2021-05-07

    Abstract: 本发明属于曝光装置,具体涉及一种射线探伤中心曝光装置。一种射线探伤中心曝光装置,其特征在于:包括主体结构,在主体结构上设有调节装置和夹持装置。本发明的显著效果是:本发明可用于X射线检验和γ射线检验。该装置不仅能解决射线对焦、对中难题,而且焦距可变,提高了拍片效率,缩短了检验工期,减少了废片率,节约了检测成本。装置可适用于直径300mm~1500mm管道贯穿件与容器筒体对接的圆周向焊缝射线检验,对于透照厚度范围根据使用的射线装置类型或放射源种类而定。装置焦距可调范围500mm~1000mm,满足各种厚度试件射线检验几何不清晰度要求。

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