自给能中子探测器外壳材料性能加速老化分析方法及系统

    公开(公告)号:CN117571749A

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202311578126.2

    申请日:2023-11-23

    Abstract: 本发明公开了自给能中子探测器外壳材料性能加速老化分析方法及系统,包括:以辐照损伤程度作为自给能中子探测器组件外壳材料辐照损伤程度指标,通过蒙特卡洛工具,模拟计算自给能中子探测器组件外壳材料在设定服役期限累积中子注量条件下的辐照损伤程度数值;采用重离子束流对自给能中子探测器组件外壳材料样品进行辐照,确定重离子束流辐照自给能中子探测器组件外壳材料样品造成等效辐照损伤程度数值所需的参数;采用纳米压痕技术测定辐照后的样品在不同辐照损伤程度下的硬度变化情况,计算辐照样品的屈服强度和拉伸强度;并分析在该辐照强度下探测器拔出堆芯过程中是否会发生断裂或裂纹。本发明能够有效评估堆芯自给能探测器组件的使用寿命。

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