采用多探头的超声波检验方法

    公开(公告)号:CN103512953B

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201310450041.6

    申请日:2013-09-27

    Abstract: 本发明公开采用多探头的超声波检验方法,该方法通过多探头装置进行,多探头装置包括:外壳、左斜楔、中斜楔、右斜楔、左晶片、左阻尼块、左电缆线、超声仪、中晶片、中阻尼块、中电缆线、右晶片、右阻尼块、右电缆线、隔声槽和消声槽;该方法包括步骤:(1)通过CSK-ⅠA和CSK-ⅢA试块对该装置进行校正;并根据校正结果在超声仪上输入三个晶片的各项参数;通过CSK-ⅢA试块来确定该装置的探伤灵敏度;(2)检查该装置在移动时该装置内部三个晶片的灵敏度是否正常、报警状态是否正常;(3)使用该装置对被检工件进行检验:检验时从边缘一个晶片开始;(4)当该装置发现缺陷后,用回波幅度最高的晶片,对准缺陷进行前后、左右、转角和环绕的扫查。

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