公开(公告)号：CN112950561A

公开(公告)日：2021-06-11

申请号：CN202110196131.1

申请日：2021-02-22

Applicant: 中国地质大学(武汉)

Inventor： 梅爽 ,  门晓坛 ,  文国军 ,  程江涛

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/11 ,  G06T7/136 ,  G06T7/194 ,  G06T5/50 ,  G06K9/62 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明涉及一种光纤端面缺陷检测方法、设备及存储介质，具体包括以下步骤：采集光纤端面的正常样本数据集和缺陷样本数据集，构建并训练条件生成对抗网络，能够进行缺陷样本数据扩充，解决了缺陷检测样本数据不足的问题，避免了过拟合现象的产生；构建并训练循环生成对抗网络，在使用生成器对光纤端面进行缺陷检测的同时，也生成新的缺陷样本，进一步扩充缺陷样本数据集；根据扩充后的缺陷样本集与正常样本数据集通过对抗训练后的循环生成对抗网络模型进行缺陷识别，获得缺陷区域。本方法属于无监督学习方法，为缺陷检测提供一种全新的方法，不仅可以省去为图片标记的麻烦，同时可以大大提高缺陷检测的准确率。

公开(公告)号：CN119579562A

公开(公告)日：2025-03-07

申请号：CN202411729660.3

申请日：2024-11-29

Applicant: 中国地质大学(武汉)

Inventor： 梅爽 ,  向娟 ,  王贺堡 ,  程江涛 ,  刁兆磊 ,  文国军

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/10

Abstract: 本发明公开了一种轨道列车表面重要构件失效形式检测方法、介质及设备，涉及智能检测工程技术领域，轨道列车表面重要构件失效形式检测方法主要包括：根据轨道机车外表面图像得到训练数据集；构建构件分割模型，利用训练数据集对构件分割模型进行训练得到训练好的构件分割模型；利用训练好的构件分割模型检测待测图像得到螺栓分割图像，进行多边形拟合、角度计算和检测，得到检测结果。实施本发明提供的轨道列车表面重要构件失效形式检测方法、介质及设备，能提升列车表面重要构件失效形式检测的精确性和可靠性。

公开(公告)号：CN118840342A

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202410939894.4

申请日：2024-07-15

Applicant: 中国地质大学(武汉)

Inventor： 刁兆磊 ,  梅爽 ,  程江涛 ,  文国军

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/774 ,  G06V10/764 ,  G06V10/82

Abstract: 本发明提供了一种半导体芯片图案晶圆缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及晶圆检测技术领域，其方法包括：获取晶圆表面图像集、预处理后划分为缺陷样本数据集与正常样本数据集、建立晶圆缺陷生成网络并训练，结束后生成混合晶圆图像、对缺陷样本数据集进行增广，预处理后划分数据集、构建晶圆表面缺陷检测网络并训练、将待测晶圆表面图像输入训练好的检测网络，得到晶圆表面缺陷检测结果；设备及存储介质用于实现方法。本发明的有益效果是：构建了晶圆缺陷生成网络，解决了缺陷检测样本数据不足的问题，构建图案化晶圆表面缺陷检测网络，解决了图案化晶圆背景复杂时无法有效提取图像小缺陷区域特征的问题，大大提高缺陷检测的效率和准确率。

公开(公告)号：CN112950561B

公开(公告)日：2022-07-26

申请号：CN202110196131.1

申请日：2021-02-22

Applicant: 中国地质大学(武汉)

Inventor： 梅爽 ,  门晓坛 ,  文国军 ,  程江涛

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/11 ,  G06T7/136 ,  G06T7/194 ,  G06T5/50 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06K9/62 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明涉及一种光纤端面缺陷检测方法、设备及存储介质，具体包括以下步骤：采集光纤端面的正常样本数据集和缺陷样本数据集，构建并训练条件生成对抗网络，能够进行缺陷样本数据扩充，解决了缺陷检测样本数据不足的问题，避免了过拟合现象的产生；构建并训练循环生成对抗网络，在使用生成器对光纤端面进行缺陷检测的同时，也生成新的缺陷样本，进一步扩充缺陷样本数据集；根据扩充后的缺陷样本集与正常样本数据集通过对抗训练后的循环生成对抗网络模型进行缺陷识别，获得缺陷区域。本方法属于无监督学习方法，为缺陷检测提供一种全新的方法，不仅可以省去为图片标记的麻烦，同时可以大大提高缺陷检测的准确率。

公开(公告)号：CN118469970A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202410637458.1

申请日：2024-05-22

Applicant: 中国地质大学(武汉)

Inventor： 梅爽 ,  刁兆磊 ,  程江涛 ,  向娟 ,  文国军

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/52 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06V10/764 ,  G06V10/26 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/0475 ,  G06N3/094 ,  G06N3/0464

Abstract: 本发明涉及人工智能领域，公开了一种图案化晶圆表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，该方法通过采集并处理图案化晶圆图像数据，获得待测晶圆中待测晶粒的缺陷样本数据集和正常样本数据集，构建Defect‑GAN网络，利用数据集，通过Defect‑GAN网络生成缺陷图像，将缺陷图像加入缺陷样本数据集中，避免过拟合现象；对数据集进行预处理，得到输入图像，构建孪生晶圆缺陷检测网络模型，将输入图像输入孪生晶圆缺陷检测网络模型，对输入图像进行随机翻转和位置交换实现数据增强，对模型中的参数进行优化训练，使用Poly策略对模型进行训练，将输入图像输入训练好的孪生晶圆缺陷检测网络模型，得到图案化晶圆表面缺陷精细分割图，提高缺陷检测的效率和准确率。