一种划痕深度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN112945131A

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN202110178438.9

    申请日:2021-02-09

    Abstract: 本公开涉及一种划痕深度测量装置,包括光路子系统,包括光源和挡片,用于产生部分被遮挡的平行光以照射被测表面;调节子系统,用于调节部分被遮挡的平行光照射被测表面的照射角度;以及成像子系统,包括用于采集被测表面的半明半暗的影像的相机和数据处理部分,其中若所采集到的半明半暗的影像上有底边在明暗分界线上并具有尖点的突起部分,则所述数据处理部分至少部分地基于照射角度和对影像中尖点与明暗分界线之间的距离的测量来确定被测表面上的划痕的深度。本公开的其他方面包括相应的划痕深度测量方法等。

    一种划痕深度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN112945131B

    公开(公告)日:2022-12-09

    申请号:CN202110178438.9

    申请日:2021-02-09

    Abstract: 本公开涉及一种划痕深度测量装置,包括光路子系统,包括光源和挡片,用于产生部分被遮挡的平行光以照射被测表面;调节子系统,用于调节部分被遮挡的平行光照射被测表面的照射角度;以及成像子系统,包括用于采集被测表面的半明半暗的影像的相机和数据处理部分,其中若所采集到的半明半暗的影像上有底边在明暗分界线上并具有尖点的突起部分,则所述数据处理部分至少部分地基于照射角度和对影像中尖点与明暗分界线之间的距离的测量来确定被测表面上的划痕的深度。本公开的其他方面包括相应的划痕深度测量方法等。

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