预测测控装置液晶面板寿命的方法

    公开(公告)号:CN105404029B

    公开(公告)日:2018-07-20

    申请号:CN201510776143.6

    申请日:2015-11-12

    Abstract: 一种预测测控装置液晶面板寿命的系统,通过监测累计背光点亮时长来监测液晶面板工作状态,从而达到预测液晶面板寿命的目的。系统由背光控制电路、存储器、处理器和通信管理板组成。在测控装置的液晶面板实际应用中,液晶背光的供电电源是可控的,由处理器的管脚控制MOS管的导通和截止来实现液晶屏的点亮和熄灭。在确定液晶屏使用寿命的前提下,在MOS管导通时,由软件启动计时器,计算每一次MOS管导通的时间并进行累加(以秒为单位),将累加结果存储在液晶面板的存储器E2PROM中。该累加时间即为液晶屏的工作总时间,随时可以被系统读取来监测液晶屏的工作状态,当工作时间接近液晶屏寿命阈值时会提示进行更换,也可以通过一个指示灯来进行告警。

    预测测控装置液晶面板寿命的方法

    公开(公告)号:CN105404029A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201510776143.6

    申请日:2015-11-12

    Abstract: 一种预测测控装置液晶面板寿命的系统,通过监测累计背光点亮时长来监测液晶面板工作状态,从而达到预测液晶面板寿命的目的。系统由背光控制电路、存储器、处理器和通信管理板组成。在测控装置的液晶面板实际应用中,液晶背光的供电电源是可控的,由处理器的管脚控制MOS管的导通和截止来实现液晶屏的点亮和熄灭。在确定液晶屏使用寿命的前提下,在MOS管导通时,由软件启动计时器,计算每一次MOS管导通的时间并进行累加(以秒为单位),将累加结果存储在液晶面板的存储器E2PROM中。该累加时间即为液晶屏的工作总时间,随时可以被系统读取来监测液晶屏的工作状态,当工作时间接近液晶屏寿命阈值时会提示进行更换,也可以通过一个指示灯来进行告警。

    一种过程层设备抵御网络风暴的方法

    公开(公告)号:CN105207817A

    公开(公告)日:2015-12-30

    申请号:CN201510603376.6

    申请日:2015-09-21

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种数字化变电站过程层设备的抑制网络风暴方法,采用FPGA抑制风暴的过程与CPU抑制风暴的过程相结合,采用分时限流法实现网络风暴过滤;所述FPGA抑制网络风暴的过程为:FPGA设置前置过滤模块,模块收到报文后完成CRC校验码及帧字节异或码计算,与前一帧的CRC校验码及帧字节异或码比较,如相同,丢弃当前报文,并将CRC校验码及帧字节异或码保存用于下一帧报文判断;所述CPU抑制风暴的过程包括CPU应用层抑制网络风暴的过程和CPU驱动层抑制网络风暴的过程。本方法解决数字化变电站过程层网络异常引起设备误动或拒动,增强过程层设备运行可靠性。

    变电站常规采样仪用互感器二次回路断线在线检测方法

    公开(公告)号:CN105242167B

    公开(公告)日:2017-11-03

    申请号:CN201510685045.1

    申请日:2015-10-20

    Abstract: 一种变电站中常规采样仪用互感器二次回路断线检测方法,包括步骤:S1,在仪用互感器二次回路增加阻值不对等的兆级上拉电阻R1和下拉电阻R2,阻值比为1:2;对电流型PT互感器在源边串联有电阻R0_1,在副边并联有电阻R0_2;对所述的电压型CT互感器在源边并联有电阻R0;S2,识别故障并处理:当AD采样值连续1/4周波时间在二次回路断线的偏移电势附近时,判别为二次回路断线;采样装置进行断线异常处理:合并单元SV输出采样值品质置异常,并驱动GOOSE发布采样值异常告警点;常规采样保护装置闭锁断线通道相关保护、常规采样测控装置断线通道采样值置无效,并告警。本发明可实现变电站中常规采样装置二次回路状态自检,提升变电站中常规采样装置的可靠性。

Patent Agency Ranking