公开(公告)号：CN101738307A

公开(公告)日：2010-06-16

申请号：CN200910219474.4

申请日：2009-12-14

Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所

Inventor： 杨红 ,  姜昌录 ,  郭羽 ,  焦明印 ,  康文莉 ,  康登魁 ,  吴李鹏

IPC: G01M11/02 ,  G02B5/20 ,  G02B13/16

Abstract: 本发明公开了一种紫外传函仪用像分析器，属于光学计量测试领域。该像分析器主要包括分析狭缝、中继光学系统、紫外滤光片、紫外光电倍增管和二维电动扫描平台。测试时，紫外滤光片插在中继光学系统的平行光路中，像分析器在二维电动扫描平台的带动下进行二维扫描，使被测紫外光学系统将紫外目标成像在分析狭缝的不同位置，每个扫描点上的紫外目标像经中继光学系统放大和紫外滤光片滤光后再成像在紫外光电倍增管的光敏面上，后者将紫外目标像转换成电信号后送入紫外传函仪的控制与数据处理系统。本发明实现了紫外传函仪所要求的像分析器，具有结构简单、测试精度高的特点。

公开(公告)号：CN101738307B

公开(公告)日：2011-06-01

申请号：CN200910219474.4

申请日：2009-12-14

Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所

Inventor： 杨红 ,  姜昌录 ,  郭羽 ,  焦明印 ,  康文莉 ,  康登魁 ,  吴李鹏

IPC: G01M11/02 ,  G02B5/20 ,  G02B13/16

Abstract: 本发明公开了一种紫外传函仪用像分析器，属于光学计量测试领域。该像分析器主要包括分析狭缝、中继光学系统、紫外滤光片、紫外光电倍增管和二维电动扫描平台。测试时，紫外滤光片插在中继光学系统的平行光路中，像分析器在二维电动扫描平台的带动下进行二维扫描，使被测紫外光学系统将紫外目标成像在分析狭缝的不同位置，每个扫描点上的紫外目标像经中继光学系统放大和紫外滤光片滤光后再成像在紫外光电倍增管的光敏面上，后者将紫外目标像转换成电信号后送入紫外传函仪的控制与数据处理系统。本发明实现了紫外传函仪所要求的像分析器，具有结构简单、测试精度高的特点。