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公开(公告)号：CN110010191A
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201910265417.3
申请日：2019-04-03
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
IPC: G16B5/30
Abstract: 本发明公开了一种温储备方式下胚胎电子细胞阵列可靠性评估方法，涉及基于生物学模型的计算机系统技术领域。所述方法包括如下步骤：分析胚胎电子细胞阵列工作过程及原理，引入电子细胞故障检测率与故障修复成功率两个参数，基于k-out-of-n温储备系统可靠性理论与非齐次连续时间Markov可靠性理论，建立行移除自修复胚胎电子细胞阵列以及细胞移除自修复胚胎电子细胞阵列的平均故障前时间（Mean time to failure,MTTF）方程，通过阵列MTTF方程衡量所述阵列的可靠性。所述方法能够有效评估胚胎电子细胞阵列的可靠性，且提高了阵列可靠性评估的准确度。
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公开(公告)号：CN110010191B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201910265417.3
申请日：2019-04-03
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
IPC: G16B5/30
Abstract: 本发明公开了一种温储备方式下胚胎电子细胞阵列可靠性评估方法，涉及基于生物学模型的计算机系统技术领域。所述方法包括如下步骤：分析胚胎电子细胞阵列工作过程及原理，引入电子细胞故障检测率与故障修复成功率两个参数，基于k‑out‑of‑n温储备系统可靠性理论与非齐次连续时间Markov可靠性理论，建立行移除自修复胚胎电子细胞阵列以及细胞移除自修复胚胎电子细胞阵列的平均故障前时间（Mean time to failure,MTTF）方程，通过阵列MTTF方程衡量所述阵列的可靠性。所述方法能够有效评估胚胎电子细胞阵列的可靠性，且提高了阵列可靠性评估的准确度。
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公开(公告)号：CN109683085B
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN201910044394.3
申请日：2019-01-17
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明提供了一种电子细胞自检方法，该方法应用于电路检测技术领域，所述方法包括：基于剩余码确定电子细胞地址产生模块的第一编码；基于Berger码和剩余码确定电子细胞输入输出模块的第二编码；输入所述第一编码和第二编码至第一TRC级联电路得到电子细胞的故障指示信息。本发明提供的电子细胞自检方法能够检测单个故障和单向多位故障，实现胚胎电子细胞的编码自检。
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公开(公告)号：CN109683085A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201910044394.3
申请日：2019-01-17
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
IPC: G01R31/317
CPC classification number: G01R31/31702
Abstract: 本发明提供了一种电子细胞自检方法，该方法应用于电路检测技术领域，所述方法包括：基于剩余码确定电子细胞地址产生模块的第一编码；基于Berger码和剩余码确定电子细胞输入输出模块的第二编码；输入所述第一编码和第二编码至第一TRC级联电路得到电子细胞的故障指示信息。本发明提供的电子细胞自检方法能够检测单个故障和单向多位故障，实现胚胎电子细胞的编码自检。
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公开(公告)号：CN109299570B
公开(公告)日：2023-02-07
申请号：CN201811247003.X
申请日：2018-10-25
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
Abstract: 本发明公开了一种阵列天线方向图自修复方法，涉及阵列天线技术领域。所述方法包括如下步骤：获取阵列天线中发生故障的阵元信息以及未发生故障的阵元信息；根据获取的发生故障的阵元信息以及未发生故障的阵元信息建立阵列天线方向图自修复数学模型；对建立的阵列天线方向图自修复数学模型进行求解，完成所述方向图的自修复。所述方法自修复过程计算速度快，且计算时间受阵列中阵元数目影响较小，可用于大规模阵列天线。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109980367B
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201910242935.3
申请日：2019-03-28
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
Abstract: 本发明公开了一种具有快速自修复能力的阵列天线及其自修复方法，涉及阵列天线技术领域。所述阵列天线包括阵元阵列、T/R细胞阵列、功率分配/相加网络以及波束控制系统，所述T/R细胞阵列包括输入切换控制模块、k个T/R细胞、检测模块以及输出切换控制模块。所述阵列天线在快速自检测基础上，通过T/R细胞的快速切换，可实现阵列天线的快速自修复，且在自修复过程中，保持了各辐射阵元信号原状态，阵元间互耦不发生变化，提高了自修复效果。
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公开(公告)号：CN106777719B
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201611207129.5
申请日：2016-12-23
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及故障检测技术领域，提供了一种双模冗余的故障检测装置的故障检测方法。该故障检测方法包括：根据待测电路生成待验证电路；对所述待验证电路中的所有节点依次进行单固定型故障注入；将故障注入后的所述待验证电路与故障注入前的所述待验证电路进行等价性验证，并记录等价性验证结果；在所述待验证电路的所有节点均完成故障注入和等价验证后，根据所述等价验证结果得出所述待测电路的故障检测率。该故障检测方法能够有效利用胚胎电子细胞阵列中的空闲细胞，可实时检测故障，故障检测率高。
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公开(公告)号：CN107895090B
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN201711248951.0
申请日：2017-12-01
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
IPC: G06F30/27 , G06N3/00 , G06F111/10
Abstract: 本发明公开了一种胚胎电子系统数学描述方法，涉及具备自修复能力的新型仿生硬件技术领域。所述方法包括：建立胚胎电子系统的功能函数、性能函数和状态函数；利用功能函数来描述胚胎电子系统的功能信息，利用性能函数来描述胚胎电子系统的性能信息，利用状态函数描述胚胎电子系统的工作状态信息；利用功能函数来判断胚胎电子系统能否正常工作，利用性能函数来评估胚胎电子系统的自修复能力和硬件资源消耗，利用状态函数来分析胚胎电子系统的工作状态。所述方法能够准确的对系统的功能、性能和工作状态进行描述，将胚胎电子系统从电子领域转化到数学领域，能够从数学的角度对胚胎电子系统开展理论研究。
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公开(公告)号：CN109980367A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201910242935.3
申请日：2019-03-28
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
Abstract: 本发明公开了一种具有快速自修复能力的阵列天线及其自修复方法，涉及阵列天线技术领域。所述阵列天线包括阵元阵列、T/R细胞阵列、功率分配/相加网络以及波束控制系统，所述T/R细胞阵列包括输入切换控制模块、k个T/R细胞、检测模块以及输出切换控制模块。所述阵列天线在快速自检测基础上，通过T/R细胞的快速切换，可实现阵列天线的快速自修复，且在自修复过程中，保持了各辐射阵元信号原状态，阵元间互耦不发生变化，提高了自修复效果。
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公开(公告)号：CN109299570A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201811247003.X
申请日：2018-10-25
Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学
Abstract: 本发明公开了一种阵列天线方向图自修复方法，涉及阵列天线技术领域。所述方法包括如下步骤：获取阵列天线中发生故障的阵元信息以及未发生故障的阵元信息；根据获取的发生故障的阵元信息以及未发生故障的阵元信息建立阵列天线方向图自修复数学模型；对建立的阵列天线方向图自修复数学模型进行求解，完成所述方向图的自修复。所述方法自修复过程计算速度快，且计算时间受阵列中阵元数目影响较小，可用于大规模阵列天线。
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