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发明公开
一种磁屏蔽空间内剩磁的测量装置无效

公开(公告)号：CN116381574A

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN202310177535.5

申请日：2023-02-23

Applicant: 中国人民解放军海军工程大学

Inventor： 丁志超 , 孙春生 , 李佳佳 , 张爽 , 马丽衡 , 韩宏伟 , 张甦

IPC: G01R33/02

Abstract: 本发明公开了一种磁屏蔽空间内剩磁的测量装置，包括原子气室、光路机构、二维磁场产生机构和信号处理机构，其中，信号处理机构，用于获取不同光功率下，施加的恒定磁场在相反两方向时的133Cs原子的磁共振谱；提取各光功率下，恒定磁场在相反两方向时的133Cs原子的磁共振谱的中心频率，得到不同光功率下待测P点处的磁场B1和B2；(3)利用多项式函数，对(B1+B2)/2与光功率Φ的依赖关系进行拟合，提取拟合结果的常数项，该常数项为磁屏蔽空间内待测P点处剩磁沿x、y、z轴方向的磁场分量；根据三轴磁场分量，计算磁屏蔽空间内的剩磁。本发明能实现对磁屏蔽空间内剩磁的高精度测量。

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