一种基于隧穿电离对强激光脉冲波形的全光直接测量法

    公开(公告)号:CN119881457A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510033598.2

    申请日:2025-01-09

    Abstract: 本发明提出了一种基于隧穿电离对强激光脉冲波形的全光直接测量法,旨在实现对超短脉冲的原位表征。该方法利用阿秒瞬态吸收实验,通过观测共振吸收线上升沿的变化率来反推电场强度的变化,结合少周期近红外脉冲在氪气中产生的高次谐波截止位置确定峰值光强,并利用WTBI公式获取最大电离速率。通过提取阿秒瞬态吸收光谱中的时间信息,结合电离速率与电场强度的关系,实现了对近红外脉冲电场波形的全光直接测量。该方法无需复杂算法迭代,能够直接获取脉冲电场波形,特别适用于少周期飞秒脉冲的测量,对于超快动力学和高能量密度物理研究具有重要意义。实验结果表明,该方法测量得到的电场波形与光谱仪测得的结果吻合良好,脉宽测量更为准确。

    一种超短单个阿秒脉冲的产生方法和装置

    公开(公告)号:CN119481921A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411629416.X

    申请日:2024-11-14

    Abstract: 本发明公开了一种超短单个阿秒脉冲的产生方法和装置,该方法包括:基于飞秒激光输出模块产生少周期飞秒脉冲;基于广义双光学选通门对所述少周期飞秒脉冲进行处理,输出激光场脉冲;将所述激光场脉冲聚焦至反应池,以电离反应池气体,产生超短单个阿秒脉冲;所述激光场脉冲具有前部、中部和尾部,所述前部和所述尾部为圆偏振,所述中部为线偏振,形成选通门,所述超短单个阿秒脉冲在所述选通门内产生,所述选通门的宽度小于1/5的光周期。本发明提供的技术方案实现了不依赖载波包络相位CEP稳定的近红外脉冲产生近50as超短单个阿秒脉冲。

    单个阿秒脉冲的互相关测量方法和系统

    公开(公告)号:CN115979438B

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202211672665.8

    申请日:2022-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种单个阿秒脉冲的互相关测量方法和系统,该方法包括:采用阿秒条纹相机方案测量单个阿秒脉冲的光电子能谱行迹图,对数据进行单频滤波和傅立叶变换,提取相位角信息,根据相位角信息构建正余弦形式的误差函数,采用高斯牛顿算法进行迭代寻优,输出最优单个阿秒脉冲谱相位,结合上述光电子能谱行迹图,反演单个阿秒脉冲的时域波形。根据上述的互相干测量方法进行测量的系统包括:用于实验测量互相关数据的实验测量模块,相位角提取模块,迭代求解模块以及阿秒脉冲表征模块。本发明通过上述技术方案实现了快速收敛、精度高、鲁棒性强和对调制激光光强及脉宽适用范围广的单个阿秒脉冲互相关测量。

    基于超强激光诱导的超连续极紫外相干光源产生装置

    公开(公告)号:CN119315365B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411871603.9

    申请日:2024-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于超强激光诱导的超连续极紫外相干光源产生装置,包括强激光源、气体池和聚焦镜,强激光源用于输出少周期强激光脉冲;少周期强激光脉冲包含的光周期数量不大于三,脉宽在5‑7fs之间,单脉冲能量在500mJ以上。气体池内装有气体,设置在真空腔内;少周期强激光脉冲经所述聚焦镜后入射所述气体池,以激发气体池内的气体产生超连续极紫外相干光。本发明提供的技术方案通过强激光场在气体池中的激发和缀饰作用,产生了带宽超过二十个电子伏特的超连续极紫外辐射,实现了对外来原子辐射动力学的强场阿秒控制,并可同时产生空间分离的相干阿秒光脉冲,解决阿秒脉冲干涉实验的光源问题。

    基于超强激光诱导的超连续极紫外相干光源产生装置

    公开(公告)号:CN119315365A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202411871603.9

    申请日:2024-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于超强激光诱导的超连续极紫外相干光源产生装置,包括强激光源、气体池和聚焦镜,强激光源用于输出少周期强激光脉冲;少周期强激光脉冲包含的光周期数量不大于三,脉宽在5‑7fs之间,单脉冲能量在500mJ以上。气体池内装有气体,设置在真空腔内;少周期强激光脉冲经所述聚焦镜后入射所述气体池,以激发气体池内的气体产生超连续极紫外相干光。本发明提供的技术方案通过强激光场在气体池中的激发和缀饰作用,产生了带宽超过二十个电子伏特的超连续极紫外辐射,实现了对外来原子辐射动力学的强场阿秒控制,并可同时产生空间分离的相干阿秒光脉冲,解决阿秒脉冲干涉实验的光源问题。

    基于太赫兹时域谱技术的涡旋波测量系统和方法

    公开(公告)号:CN110579280B

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN201910843004.9

    申请日:2019-09-06

    Abstract: 本发明公开了一种基于太赫兹时域谱技术的涡旋波测量系统,包括:飞秒激光器、第一分束镜、产生模块、调制模块、探测模块和控制模块,所述调制模块包括空间光调制器,用于周期性调制涡旋太赫兹脉冲,所述控制模块包括锁相放大器,所述锁相放大器的参考输入端输入所述空间光调制器的调制频率信号,用于锁相放大不同涡旋拓扑荷成分的信号,通过探测模块的扫描延时线完成对各涡旋拓扑荷成分的时域波形扫描。本发明还公开了一种基于太赫兹时域谱技术的涡旋波测量方法。本发明提供的涡旋波测量系统和方法适用于太赫兹时域谱技术,相比于传统的小孔限制和CCD观测法,具有速度快、精度高、操作简便的效果。

    基于电光采样的太赫兹偏振测量方法和系统

    公开(公告)号:CN119354336A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411908158.9

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于电光采样的太赫兹偏振测量方法和系统,属于光谱检测领域,该系统包括飞秒脉冲单元、太赫兹产生单元、偏振调制单元和平衡探测单元。其中,偏振调制单元,用于将所述探测光调制为双偏振探测光,双偏振探测光具有两种偏振状态,两种偏振状态间隔分布在所述双偏振探测光的脉冲序列中;平衡探测单元,用于将太赫兹脉冲光的S光分量和P光分量的电场信号分别调制在双偏振探测光的相邻的两个脉冲上,由平衡探测器探测太赫兹脉冲光的全时域波形。本发明提供的技术方案通过偏振调制单元将两种不同偏振状态间隔加载在探测光的相邻脉冲当中,使得单次扫描就能测量S分量和P分量的电场信号,不仅提高了探测效率,而且提高了测量精度。

    基于激光脉冲的光致变材料的研究系统和方法

    公开(公告)号:CN118362541B

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410775393.7

    申请日:2024-06-14

    Abstract: 本发明公开了一种基于激光脉冲的光致变材料的研究系统和方法,属于新材料技术领域。所述研究系统包括激光器、分束器、延时模块、倍频模块、双色合束镜、高速平移台和光谱探测器,延时模块用于输出探测光,倍频模块用于输出泵浦光,高速平移台载有光致变材料,在测量过程中驱动所述光致变材料移动。本发明提供的技术方案通过高速平移台和延时模块的相互配合,使泵浦光的每一个脉冲均照射在光致变材料的不同位置,不仅避免了重复位置的照射影响测量,解决了现有技术测量光致变长弛豫过程的困难,而且通过相同延时的平均计算进一步提高了测量精度。

    基于太赫兹时域谱技术的涡旋波测量系统和方法

    公开(公告)号:CN110579280A

    公开(公告)日:2019-12-17

    申请号:CN201910843004.9

    申请日:2019-09-06

    Abstract: 本发明公开了一种基于太赫兹时域谱技术的涡旋波测量系统,包括:飞秒激光器、第一分束镜、产生模块、调制模块、探测模块和控制模块,所述调制模块包括空间光调制器,用于周期性调制涡旋太赫兹脉冲,所述控制模块包括锁相放大器,所述锁相放大器的参考输入端输入所述空间光调制器的调制频率信号,用于锁相放大不同涡旋拓扑荷成分的信号,通过探测模块的扫描延时线完成对各涡旋拓扑荷成分的时域波形扫描。本发明还公开了一种基于太赫兹时域谱技术的涡旋波测量方法。本发明提供的涡旋波测量系统和方法适用于太赫兹时域谱技术,相比于传统的小孔限制和CCD观测法,具有速度快、精度高、操作简便的效果。

    基于激光脉冲的光致变材料的研究系统和方法

    公开(公告)号:CN118362541A

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202410775393.7

    申请日:2024-06-14

    Abstract: 本发明公开了一种基于激光脉冲的光致变材料的研究系统和方法,属于新材料技术领域。所述研究系统包括激光器、分束器、延时模块、倍频模块、双色合束镜、高速平移台和光谱探测器,延时模块用于输出探测光,倍频模块用于输出泵浦光,高速平移台载有光致变材料,在测量过程中驱动所述光致变材料移动。本发明提供的技术方案通过高速平移台和延时模块的相互配合,使泵浦光的每一个脉冲均照射在光致变材料的不同位置,不仅避免了重复位置的照射影响测量,解决了现有技术测量光致变长弛豫过程的困难,而且通过相同延时的平均计算进一步提高了测量精度。

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