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公开(公告)号：CN117976026A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410152291.X
申请日：2024-02-03
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
Inventor： 李清江 , 王义楠 , 刘桂青 , 陈长林 , 徐晖 , 朱城和 , 于新军 , 刁节涛 , 刘海军 , 李智炜 , 于红旗 , 曹荣荣 , 步凯 , 刘森 , 宋兵 , 王伟 , 王玺 , 孙毅 , 孙振源
Abstract: 本申请涉及忆阻器多模式操作测试电路和测试方法，通过采用脉冲发生卡、阵列卡和信号采集卡构成的测试电路，由阵列卡来直接实现不同被测的忆阻器阵列的搭载。在对被测的忆阻器阵列进行多工作模式测试时，可以首先利用上位机通过脉冲发生卡分别将忆阻器阵列配置到单器件读模式、单器件正向写模式或单器件反向写模式，将信号采集卡配置对应测试模式下的信号采集，上位机开启触发测试后，脉冲发生卡发送相应的读写脉冲和栅压控制脉冲到忆阻器阵列中被选中的测试区域，信号采集卡采集被选中的测试区域的测量信号后，传输到上位机进行相应功能模式下的测试结果处理与显示，实现对不同被测的忆阻器阵列的多工作模式的高效测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114550808A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210166998.7
申请日：2022-02-23
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
Inventor： 李清江 , 王义楠 , 刘海军 , 徐晖 , 刘桂青 , 朱城和 , 刘森 , 李智炜 , 刁节涛 , 李晨辉 , 陈长林 , 宋兵 , 于红旗 , 王玺 , 步凯 , 王伟 , 于新军 , 王琴 , 曹荣荣
Abstract: 本发明实施例公开了一种神经形态计算测评装置，神经形态计算测评装置包括忆阻器阵列测评电路与忆阻器阵列，所述忆阻器阵列测评电路包括主控制器、信号施加子电路、写权值子电路、读权值子电路及开关矩阵；所述开关矩阵分别与所述主控制器及所述忆阻器阵列连接，且所述主控制器还分别通过所述写权值子电路、所述信号施加子电路、所述读权值子电路与所述开关矩阵连接。神经形态计算测评装置能够对忆阻器阵列中每一个忆阻器的阻值进行精确调控与读取。实现忆阻器阵列阻值的精确调制，提高神经形态计算的精度，进而使得本申请的神经形态计算测评装置能够适用更多种类的忆阻器阵列的测试、训练及神经形态的计算。
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公开(公告)号：CN118335173A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410152324.0
申请日：2024-02-03
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
Inventor： 王义楠 , 李清江 , 刘桂青 , 徐晖 , 刘海军 , 陈长林 , 李智炜 , 宋兵 , 王伟 , 刘森 , 于新军 , 朱城和 , 王玺 , 曹荣荣 , 于红旗 , 步凯 , 刁节涛 , 孙毅 , 孙振源
Abstract: 本申请涉及忆阻器读写测试电路和测试方法，通过采用脉冲发生卡、阵列卡和信号采集卡构成的测试电路，由阵列卡来直接实现不同被测的忆阻器阵列的搭载，以用于进行测试。将信号采集卡配置为读/写模式后，上位机开启触发测试，脉冲发生卡发送读写脉冲DAC设置信号和栅压控制脉冲信号；栅压控制脉冲信号通过阵列卡将忆阻器阵列中已选中的列上的MOS开关管全部打开，读写脉冲DAC设置信号通过阵列卡施加到忆阻器阵列中已选中的行上，选中的列线通过阵列卡将其列输出信号传输到信号采集卡进行采集后，传输到上位机进行读写功能测试结果处理与显示，有效提高了忆阻器阵列的读写测试效率。
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公开(公告)号：CN114550808B
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202210166998.7
申请日：2022-02-23
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
Inventor： 李清江 , 王义楠 , 刘海军 , 徐晖 , 刘桂青 , 朱城和 , 刘森 , 李智炜 , 刁节涛 , 李晨辉 , 陈长林 , 宋兵 , 于红旗 , 王玺 , 步凯 , 王伟 , 于新军 , 王琴 , 曹荣荣
Abstract: 本发明实施例公开了一种神经形态计算测评装置，神经形态计算测评装置包括忆阻器阵列测评电路与忆阻器阵列，所述忆阻器阵列测评电路包括主控制器、信号施加子电路、写权值子电路、读权值子电路及开关矩阵；所述开关矩阵分别与所述主控制器及所述忆阻器阵列连接，且所述主控制器还分别通过所述写权值子电路、所述信号施加子电路、所述读权值子电路与所述开关矩阵连接。神经形态计算测评装置能够对忆阻器阵列中每一个忆阻器的阻值进行精确调控与读取。实现忆阻器阵列阻值的精确调制，提高神经形态计算的精度，进而使得本申请的神经形态计算测评装置能够适用更多种类的忆阻器阵列的测试、训练及神经形态的计算。
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公开(公告)号：CN117976027A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410152292.4
申请日：2024-02-03
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
Inventor： 王义楠 , 李清江 , 徐晖 , 刘桂青 , 李智炜 , 刘森 , 宋兵 , 陈长林 , 刘海军 , 王伟 , 刁节涛 , 于红旗 , 王玺 , 曹荣荣 , 步凯 , 孙毅 , 孙振源 , 朱城和 , 于新军
Abstract: 本申请涉及忆阻器单器件反向写操作测试电路与方法，通过采用上述脉冲发生卡、阵列卡和信号采集卡构成的测试电路，在对被测的忆阻器阵列进行单器件反向写测试时，可以首先配置好脉冲发生卡的写脉冲信号参数、栅压控制脉冲参数，然后配置好阵列卡的各开关矩阵，以使选中的源线接写脉冲信号，未选中的列处于浮空状态，选中的位线接信号采集卡的ADC采集信号采集端，其它的未选中的位线也接写脉冲信号。解决了反向写操作的过程中相互串扰影响权值的问题，有效提高忆阻器单器件反向写操作的测试效果。
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公开(公告)号：CN222354742U
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202421203239.4
申请日：2024-05-29
Applicant: 中国人民解放军国防科技大学 , 湖南先进技术研究院
Abstract: 本申请涉及一种用于忆阻器阵列测试的逻辑计算板卡，搭建了该逻辑计算板卡后，在实际使用时，将待测忆阻器阵列安装到底座后上电，首先通过读权值电路和写权值电路对待测忆阻器阵列的权值进行读、写测试，通过逻辑计算激励信号生成电路产生逻辑计算所需要的脉冲信号，通过计算结果测量电路测量逻辑计算的结果，偏置电路通过选通开关模块给待测忆阻器阵列提供偏置电压，时钟电路给计算结果测量电路、逻辑计算激励信号生成电路，读权值电路、写权值电路提供时钟信号；人工参与的操作环节大幅削减、避免了复杂的测试算法开发，实现完全利用现有硬件部件以巧妙的电路连接关系来高效完成待测忆阻器阵列的测试，最终有效提高了测试效率。
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