公开(公告)号：CN104316495B

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：CN201410685691.3

申请日：2014-11-26

Applicant: 中南大学

Inventor： 肖思 ,  刘圣 ,  张景迪 ,  王鹏 ,  何军 ,  王道伟

IPC: G01N21/41

Abstract: 一种测量介质折射率的方法，包括以下步骤：（1）根据波长选择荧光粉，将荧光粉与有机溶剂混合振荡；（2）将荧光粉悬浮液涂到1～10mm厚的被测样品表面；（3）将涂膜样品置于透镜焦点处，使涂有薄膜的面正对透镜，打开激光器，使激光通过透镜聚焦到涂有薄膜的待测样品上，就能在薄膜上观察到一系列的同心圆光环；（4）测出第一个内侧光环的内半径或相邻光环内半径之差记为；（5）代入公式计算折射率。本发明能在近紫外、可见、近红外波段来测量平板介质的折射率。

公开(公告)号：CN104316495A

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201410685691.3

申请日：2014-11-26

Applicant: 中南大学

Inventor： 肖思 ,  刘圣 ,  张景迪 ,  王鹏 ,  何军 ,  王道伟

IPC: G01N21/41

Abstract: 一种测量介质折射率的方法，包括以下步骤：（1）根据波长选择荧光粉，将荧光粉与有机溶剂混合振荡；（2）将荧光粉悬浮液涂到1～10mm厚的被测样品表面；（3）将涂膜样品置于透镜焦点处，使涂有薄膜的面正对透镜，打开激光器，使激光通过透镜聚焦到涂有薄膜的待测样品上，就能在薄膜上观察到一系列的同心圆光环；（4）测出第一个内侧光环的内半径或相邻光环内半径之差记为；（5）代入公式计算折射率。本发明能在近紫外、可见、近红外波段来测量平板介质的折射率。