一种可适配多类感光芯片的光电探测器

    公开(公告)号:CN116124185A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202310147336.X

    申请日:2023-02-21

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本申请公开了一种可适配多类感光芯片的光电探测器,包括内部电路板和封装盒,所述电路板上的光电探测电路包括电源管理模块、译码输入模块和信号增益模块;电源管理模块包括电源开关、12V转5V、电源接口、共地和电源指示电路。电源开关,配置为使用双刀双掷滑动开关管理两路电源输入;两路电源开关前后都对地接电容;12V转5V,配置为使用线性稳压器实现,线性稳压器输入输出处对地接电容,本申请通过人工可调的信号增益系数,可以随意更换多种感光芯片进而能够接收来自各种型号激光器的激光,而不必更换整个光电探测器,本申请提出的光电探测器电路精巧、成本低、体积小、造价低。

    一种用于光谱共焦测量的FPGA算法加速模块及装置

    公开(公告)号:CN118229506A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410332766.3

    申请日:2024-03-22

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于光谱共焦测量的FPGA算法加速模块及装置,包括图像数据输入接口模块、滤波模块、光斑剖面搜寻模块、波峰提取模块、质心寻峰模块、数据结果输出接口模块和模块控制器,所述图像数据输入接口模块用于控制接收高速图像数据;所述滤波模块用于对输入数据进行滤波处理,提取数据中的有效信息;本发明计算精度高、计算资源占用少并具有极强的实时处理能力和高集成度优势,同时模块可扩展、参数可配置、模块使用可灵活重构,能够适用于不同场景下的光谱共聚焦测量应用,在基于光谱波长分析的位移精密测量、工件三维形貌测量、微量质量称量等领域均具有广阔的应用前景。

    一种基于光谱分析的三维尺寸测量通用型控制器

    公开(公告)号:CN118224995A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410314675.7

    申请日:2024-03-19

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明提出了一种基于光谱分析的三维尺寸测量通用型控制器,控制器内部分为用户操作层、设备驱动层、数据处理层、算法分析层,控制器可通过用户操作层实现控制指令处理,通过设备驱动层实现各类光谱分析测量装置的统一接入,通过数据处理层和算法分析层实现针对光谱分析方法的图像测量数据处理过程,本发明的通用型控制器与光谱分析测量设备组合成测控装置,对于各类光谱分析测量设备具有可靠的通用性,在各类工业应用场合中具有良好的扩展性。

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