公开(公告)号：CN117949737A

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202410093060.6

申请日：2024-01-22

Applicant: 中南大学

Inventor： 成庶 ,  张多 ,  刘畅 ,  向超群 ,  吕壮壮 ,  袁炜钰

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明公开了一种电容值估算方法，具体是涉及到一种基于扩展频谱时域反射的电容值估算方法及装置。该方法包括：向目标器件注入测试信号，所述测试信号基于伪随机编码生成；采集反射信号，所述反射信号为所述目标器件对所述测试信号进行反射得到的信号；对所述测试信号和所述反射信号进行互相关处理，得到互相关数据；基于所述互相关数据进行电容值估算，得到所述目标器件的电容值。本申请实施例无需对电路进行埋线即可实现电容值估算，提高了电容值估算的操作便捷性。

公开(公告)号：CN117031235B

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202310954849.1

申请日：2023-07-31

Applicant: 中南大学

Inventor： 刘畅 ,  成庶 ,  袁炜钰 ,  向超群 ,  胡裕松 ,  于天剑 ,  吕壮壮

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/52 ,  G01R31/54

Abstract: 本发明实施例公开了一种基于时域反射信号的IGBT故障诊断方法及装置，该方法包括：将注入了正向或负向直流偏置信号的时域反射信号经预设长度的传输线传输至IGBT器件的测试端；采集经IGBT器件反射的反射信号以及经传输线往返传输延时的延时时域反射信号；根据反射信号与延时时域反射信号进行互相关运算，获取最大互相关峰值，并计算最大互相关峰值与标准正常值的差值，标准正常值为IGBT器件无故障时的最大互相关峰值；将差值与诊断阈值进行比较，并根据比较结果诊断IGBT器件的故障情况。通过上述方式，本发明实施例能够同时实现IGBT和反并联二极管故障的非侵入式检测，应用灵活。

公开(公告)号：CN117031235A

公开(公告)日：2023-11-10

申请号：CN202310954849.1

申请日：2023-07-31

Applicant: 中南大学

Inventor： 刘畅 ,  成庶 ,  袁炜钰 ,  向超群 ,  胡裕松 ,  于天剑 ,  吕壮壮

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/52 ,  G01R31/54

Abstract: 本发明实施例公开了一种基于时域反射信号的IGBT故障诊断方法及装置，该方法包括：将注入了正向或负向直流偏置信号的时域反射信号经预设长度的传输线传输至IGBT器件的测试端；采集经IGBT器件反射的反射信号以及经传输线往返传输延时的延时时域反射信号；根据反射信号与延时时域反射信号进行互相关运算，获取最大互相关峰值，并计算最大互相关峰值与标准正常值的差值，标准正常值为IGBT器件无故障时的最大互相关峰值；将差值与诊断阈值进行比较，并根据比较结果诊断IGBT器件的故障情况。通过上述方式，本发明实施例能够同时实现IGBT和反并联二极管故障的非侵入式检测，应用灵活。