一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪

    公开(公告)号:CN105157837B

    公开(公告)日:2017-07-18

    申请号:CN201510278825.4

    申请日:2015-05-28

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及高光谱成像仪技术领域,具体涉及一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪,是一种高光谱成像与全偏振成像相结合的成像装置,涉及对观测目标的空间、光谱和偏振信息同时探测获取的方法;该光谱偏振成像仪基于声光可调谐滤光器实现分光和DKDP纵向电光相位调制器实现偏振探测;包括:前置成像镜头,对被测目标辐射、反射、散射和透射光进行收集准直缩束,并一次成像于AOTF;DKDP纵向电光相位调制器,进行相位调谐,AOTF,进行滤光和检偏,遮光板,将通过AOTF的0级和+1级衍射光遮挡;二次成像传导镜头,将‑1级衍射光二次成像于面阵列成像CCD上;和控制计算机;本发明主要应用在高光谱成像仪方面。

    一种声光滤光的光谱SPR成像传感系统

    公开(公告)号:CN105717076A

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:CN201610290955.4

    申请日:2016-05-04

    Applicant: 中北大学

    CPC classification number: G01N21/63 G01N21/01 G01N2201/067

    Abstract: 本发明涉及生化传感检测领域,具体涉及一种基于声光滤光的光谱SPR成像传感系统;该光谱SPR成像系统和方法,基于声光可调谐滤光器AOTF实现光谱成像,利用SPR成像原理实现传感;宽光谱光源经光束整形准直系统后,入射到AOTF实现滤光,并进入由耦合三棱镜和生物传感芯片经折射率匹配液匹配连接构成的SPR传感核心部件,最后面阵列成像CCD实现成像;本发明是在传统SPR成像基础上,引入AOTF光谱成像技术,进而实现光谱SPR成像传感检测,是一种生物分子相互作用检测的有效手段,具有实时,无标记,高通量和高灵敏的传感检测优势。

    一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪

    公开(公告)号:CN105157837A

    公开(公告)日:2015-12-16

    申请号:CN201510278825.4

    申请日:2015-05-28

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及高光谱成像仪技术领域,具体涉及一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪,是一种高光谱成像与全偏振成像相结合的成像装置,涉及对观测目标的空间、光谱和偏振信息同时探测获取的方法;该光谱偏振成像仪基于声光可调谐滤光器实现分光和DKDP纵向电光相位调制器实现偏振探测;包括:前置成像镜头,对被测目标辐射、反射、散射和透射光进行收集准直缩束,并一次成像于AOTF;DKDP纵向电光相位调制器,进行相位调谐,AOTF,进行滤光和检偏,遮光板,将通过AOTF的0级和+1级衍射光遮挡;二次成像传导镜头,将-1级衍射光二次成像于面阵列成像CCD上;和控制计算机;本发明主要应用在高光谱成像仪方面。

    一种弹光调制和电光调制级联测微小线性双折射的装置

    公开(公告)号:CN105136681A

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201510549341.9

    申请日:2015-08-31

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及线性双折射测量的技术领域,具体涉及一种弹光调制和电光调制级联测微小线性双折射的装置;提供一种高速、高精度、高灵敏、操作方便可控、稳定性好和成本低的微小线性双折射的测量装置;检测激光经准直后,依次通过起偏器、弹光调制器、待测量样品和电光调制器,最后经检偏出射到光电探测器,检测信号,经低通滤波得到直流项,并经FPGA数字锁相得到弹光调制基频项数据,直流项数据连同基频项数据传入计算机,最后计算机完成线性双折射数据处理,存储和显示;本发明主要应用在弹光偏振调制方面,能够同时获取线性双折射的幅值和方向,无需机械调节,工作稳定,便于工业化集成,为线性双折射测量及相关应用领域提供了新理论和新方法。

    一种弹光调制和电光调制级联测微小线性双折射的装置

    公开(公告)号:CN105136681B

    公开(公告)日:2017-07-25

    申请号:CN201510549341.9

    申请日:2015-08-31

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及线性双折射测量的技术领域,具体涉及一种弹光调制和电光调制级联测微小线性双折射的装置;提供一种高速、高精度、高灵敏、操作方便可控、稳定性好和成本低的微小线性双折射的测量装置;检测激光经准直后,依次通过起偏器、弹光调制器、待测量样品和电光调制器,最后经检偏出射到光电探测器,检测信号,经低通滤波得到直流项,并经FPGA数字锁相得到弹光调制基频项数据,直流项数据连同基频项数据传入计算机,最后计算机完成线性双折射数据处理,存储和显示;本发明主要应用在弹光偏振调制方面,能够同时获取线性双折射的幅值和方向,无需机械调节,工作稳定,便于工业化集成,为线性双折射测量及相关应用领域提供了新理论和新方法。

    一种弹光调制器的驱动控制装置及方法

    公开(公告)号:CN105136300B

    公开(公告)日:2017-04-05

    申请号:CN201510251470.X

    申请日:2015-05-18

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明一种弹光调制器的驱动控制装置及方法,属于弹光调制干涉仪技术领域;提供一种高分辨率弹光调制驱动控制装置及方法,可实现近红外波段(8‑14)范围内,光谱分辨率达到10cm‑1的弹光调制干涉仪的稳定驱动和控制;一种弹光调制器的驱动控制装置,包括以FPGA为核心的控制器、反向差分高压谐振驱动电路、驱动电流检测电路和最大光程差检测电路,所述弹光调制器的驱动控制装置是以FPGA为控制核心,结合反向差分高压谐振驱动电路、驱动电流检测电路和最大光程差检测电路,实现弹光调制驱动控制信号的频率和电压的调节,产生稳定的干涉图;本发明主要应用在弹光调制方面。

    一种弹光调制和电光调制级联的相位调制型椭偏仪

    公开(公告)号:CN105241820A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201510659110.3

    申请日:2015-10-13

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及椭偏参数分析的技术领域,更具体而言,涉及一种弹光调制和电光调制级联的相位调制型椭偏仪,实现了一种高精度、高灵敏度、高重复性、高速率和无需机械调节的椭偏测量;该椭偏仪是基于弹光调制和电光调制的组合偏振调制技术和数字锁相处理信号技术实现的;检测光源经缩束后,依次通过起偏器、待测样品、电光调制器、弹光调制器,最后经检偏器出射到光电探测器,检测信号经FPGA数字锁相得到弹光调制倍频项数据,并传入计算机完成待测样品的椭偏参数处理,存储和显示;该椭偏仪测量速率快、工作稳定,便于工业化集成,为椭偏参数的测量及相关应用领域提供了新理论和新方法。

    一种弹光调制器的驱动控制装置及方法

    公开(公告)号:CN105136300A

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201510251470.X

    申请日:2015-05-18

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明一种弹光调制器的驱动控制装置及方法,属于弹光调制干涉仪技术领域;提供一种高分辨率弹光调制驱动控制装置及方法,可实现近红外波段(8-14 μm)范围内,光谱分辨率达到10cm-1的弹光调制干涉仪的稳定驱动和控制;一种弹光调制器的驱动控制装置,包括以FPGA为核心的控制器、反向差分高压谐振驱动电路、驱动电流检测电路和最大光程差检测电路,所述弹光调制器的驱动控制装置是以FPGA为控制核心,结合反向差分高压谐振驱动电路、驱动电流检测电路和最大光程差检测电路,实现弹光调制驱动控制信号的频率和电压的调节,产生稳定的干涉图;本发明主要应用在弹光调制方面。

    一种液晶可变延迟器的延迟量定标方法及装置

    公开(公告)号:CN104849879A

    公开(公告)日:2015-08-19

    申请号:CN201510320865.0

    申请日:2015-06-12

    Applicant: 中北大学

    CPC classification number: G02F1/0136

    Abstract: 本发明涉及一种液晶可变延迟器(liquid crystal variable retarder,LCVR)的延迟量定标方法,属于LCVR的光学特性研究领域;提供一种操作简单、定标精度较高的定标方法;根据LCVR的工作原理,首先利用折射率椭球理论分析了LCVR对入射光的双折射相位延迟关系,然后,确立了色散项定标和调制电压决定项定标相结合的定标方法,最后,结合具体实例说明本发明的定标方法和定标步骤,本发明理论分析正确,定标方法准确可行,经过定标后,可求出LCVR工作波长范围内任意波长入射光的延迟量随调制电压的变化关系,为LCVR实现对任意波长入射光的相位延迟的精确控制提供了依据。

Patent Agency Ranking