-
公开(公告)号：CN118311006A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410732547.4
申请日：2024-06-07
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及材料检测技术领域，具体涉及一种低温环境下磁电微波多场耦合可控的低维材料检测系统，主要解决现有低维材料检测系统不能对低维材料的物理特性进行多物理场调控的技术问题。本系统包括低温组件、样品架、磁场组件、微波组件、电压组件和光检测组件，通过低温组件能够为待测低维材料提供低温环境，通过磁场组件能够为待测低维材料提供可控磁场，通过微波组件能够为待测低维材料提供可控微波场，通过电压组件能够为待测低维材料提供可控电场，并且通过光检测组件能够对检测光进行分析从而得出待测低维材料的物理特性结果，如此能够实现低维材料在多物理场耦合外部因素下的调控，为研究低维材料的新奇物理效应提供了有力的工具。
Search Results
1
records
(took 0.015 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
